ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Fitted Background Correction (FBC) — fast, accurate and fully-automated background correction

    Technické články
    | 2019 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Fitted Background Correction (FBC)— fast, accurate and fully-automated background correction

    Technické články
    | 2014 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    ‘Fitted’ — Fast, accurate and fully- automated background correction

    Technické články
    | 2012 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Measuring baseline-corrected spectra on a Cary 60 UV-Vis

    Technické články
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Measurement of Chromium in Environmental Waters by Zeeman Corrected Graphite Tube Atomization

    Aplikace
    | 2010 | Agilent Technologies
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí

    Simplifying Correction of Doubly Charged Ion Interferences with Agilent ICP-MS MassHunter

    Technické články
    | 2019 | Agilent Technologies
    Software, ICP/MS
    Instrumentace
    Software, ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Fitting Deuterium Lamp Background Correction to Agilent 50/55 AA Instruments

    Manuály
    | 2012 | Agilent Technologies
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Real-time Spectral Correction of Complex Samples using FACT Spectral Deconvolution Software

    Technické články
    | 2021 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Evaluation of Deuterium and Zeeman Background Correction with the Presence of Spectral Interferences Determinations of Arsenic in an Aluminium Matrix and Selenium in an Iron Matrix by GFAAS

    Technické články
    | 1995 | Agilent Technologies
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    FACT spectral deconvolution

    Technické články
    | 2012 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Měření čistoty malých objemů DNA při 4 °C s použitím Agilent Cary 60 UV-Vis spektrofotometru s optickým vláknem s mikrosondou

    Út, 16.4.2024
    Altium International

    Stanovení nominální hodnoty koncentrace analytu a její nejistoty ve vodných kalibračních roztocích prvků primárními metodami

    Po, 15.4.2024
    ANALYTIKA

    Tuk je možné vydolovat i z tisíce let staré keramiky, říká Veronika Brychová

    Čt, 25.4.2024
    Akademie věd České republiky
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.