ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance/Reflectance of Optical Materials

Aplikace
| 2021 | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza

Color Evaluation of Structurally Colored Films by Angle of Incidence

Aplikace
| 2016 | Shimadzu
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie

High Volume Optical Component Testing

Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Compact, portable, and handheld FTIR solutions for solid and liquid analysis

Ostatní
| 2019 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza

AGILENT VARIABLE ANGLE SPECULAR REFLECTANCE ACCESSORY (VASRA)

Brožury a specifikace
| 2013 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření

Operation of the Angle Resolving Lens on Theta Probe

Aplikace
| 2008 | Thermo Fisher Scientific
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

Rapid, Automated, Quality Control Measurements of Diffraction Grating Efficiency

Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Dynamic Light Scattering Instruments - Litesizer DLS Series

Brožury a specifikace
| 2025 | Anton Paar
Analýza velikosti částic
Instrumentace
Analýza velikosti částic
Výrobce
Anton Paar
Zaměření
Materiálová analýza

Shimadzu OneSight Wide-Range High-Speed Detector for XRD-6100/7000

Brožury a specifikace
| 2017 | Shimadzu
XRD
Instrumentace
XRD
Výrobce
Shimadzu
Zaměření

Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700

Aplikace
| N/A | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.