ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Determination of Trace Impurities in Electronic Grade Arsine by GC-ICP-QQQ

    Aplikace
    | 2020 | Agilent Technologies
    GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Agilent ICP-MS Journal (October 2020, Issue 82)

    Ostatní
    | 2020 | Agilent Technologies
    HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Průmysl a chemie, Polovodiče

    Low reflectance measurements using the ‘VW’ technique

    Technické články
    | 2011 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Fluorescence-free 785 nm material identification with MIRA XTR DS

    Technické články
    | 2021 | Metrohm
    RAMAN Spektrometrie
    Instrumentace
    RAMAN Spektrometrie
    Výrobce
    Metrohm
    Zaměření
    Nebezpečné látky

    Dealing with Matrix Interferences in the Determination of the Priority Pollutant Metals by Furnace AA

    Aplikace
    | 2010 | Agilent Technologies
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí

    Agilent ICP-MS Journal (April 2018. Issue 72)

    Ostatní
    | 2018 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Potraviny a zemědělství, Polovodiče

    Trace Metal Analysis of Waters using the Carbon Rod Atomizer — a Review

    Aplikace
    | 2010 | Agilent Technologies
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí

    Measuring Inorganic Impurities in Semiconductor Manufacturing

    Příručky
    | 2022 | Agilent Technologies
    GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Agilent Atomic Spectroscopy Solutions for the Semiconductor Industry

    Příručky
    | 2020 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    The Basics of UV-Vis Spectrophotometry

    Příručky
    | 2021 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Aktualizace služeb: Úspěšná akreditace a rozšíření nabídky

    St, 24.4.2024
    ALS Czech Republic

    Pozvánka na LABOREXPO & PROCESEXPO 2024

    Út, 23.4.2024
    CHEMAGAZÍN

    Aktuality v oblasti servisních služeb a zákaznických školení (M. Juříček) - NPI2023

    Út, 23.4.2024
    Altium International
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.