ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Benefits of a vertically oriented torch—fast, accurate results, even for your toughest samples

    Technické články
    | 2018 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Benefits of a vertically oriented torch— fast, accurate results, even for your toughest samples

    Technické články
    | 2014 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for superior speed and performance

    Technické články
    | 2014 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for superior speed and performance

    Technické články
    | 2016 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Resilient Vertical Torch Means Less Cleaning, Less Downtime, and Fewer Replacements—Even for Tough Samples

    Technické články
    | 2019 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for High Productivity and Low Cost of Ownership

    Technické články
    | 2019 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Innovative Freeform Optical Design Improves ICP-OES Speed and Analytical Performance

    Technické články
    | 2023 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Characterizing sub-nanometer narrow bandpass filters using a Cary 400/500

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Shimadzu MXF-2400 X-ray Fluorescence Spectrometer

    Brožury a specifikace
    | 2015 | Shimadzu
    X-ray
    Instrumentace
    X-ray
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Měření čistoty malých objemů DNA při 4 °C s použitím Agilent Cary 60 UV-Vis spektrofotometru s optickým vláknem s mikrosondou

    Út, 16.4.2024
    Altium International

    Stanovení nominální hodnoty koncentrace analytu a její nejistoty ve vodných kalibračních roztocích prvků primárními metodami

    Po, 15.4.2024
    ANALYTIKA

    Tuk je možné vydolovat i z tisíce let staré keramiky, říká Veronika Brychová

    Čt, 25.4.2024
    Akademie věd České republiky
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.