Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
CCIT Validation
Technické články
| 2021 | Savillex
Spotřební materiál
Instrumentace
Spotřební materiál
Výrobce
Savillex
Zaměření
Klinická analýza
Release Notes for Agilent ICP Expert Version 7.3.1
Manuály
| 2017 | Agilent Technologies
Software, ICP/OES
Instrumentace
Software, ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Release Notes for Agilent ICP Expert Version 7.4.1
Manuály
| 2018 | Agilent Technologies
Software, ICP/OES
Instrumentace
Software, ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Microfocus X-Ray CT System inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus
Brožury a specifikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Inspection of Defects in an Automotive Inverter Component with X-Ray Inspection System
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Agilent Cary 610/620 FTIR microscopes and imaging systems
Brožury a specifikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Characterization of single-walled carbon nanotubes by Raman spectroelectrochemistry
Aplikace
| 2019 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Mohlo by Vás zajímat
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.