Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
CCIT Validation
Technické články
| 2021 | Savillex
Spotřební materiál
Instrumentace
Spotřební materiál
Výrobce
Savillex
Zaměření
Klinická analýza
Release Notes for Agilent ICP Expert Version 7.3.1
Manuály
| 2017 | Agilent Technologies
Software, ICP/OES
Instrumentace
Software, ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Release Notes for Agilent ICP Expert Version 7.4.1
Manuály
| 2018 | Agilent Technologies
Software, ICP/OES
Instrumentace
Software, ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Inspection of Defects in an Automotive Inverter Component with X-Ray Inspection System
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Microfocus X-Ray CT System inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus
Brožury a specifikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Agilent Cary 610/620 FTIR microscopes and imaging systems
Brožury a specifikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Characterization of single-walled carbon nanotubes by Raman spectroelectrochemistry
Aplikace
| 2019 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.