Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(6)
Forenzní analýza a toxikologie
(3)
Klinická analýza
(2)
Materiálová analýza
(24)
Instrumentace
AAS
(9)
FTIR Spektroskopie
(22)
Fluorescenční spektroskopie
(2)
ICP/MS
(34)
Výrobce
Agilent Technologies
(61)
Elemental Scientific
(2)
Metrohm
(17)
Savillex
(5)
Autor
Agilent Technologies
(59)
Metrohm
(16)
Savillex
(5)
Shimadzu
(17)
Typ Publikace
Aplikace
(45)
Brožury a specifikace
(18)
Ostatní
(30)
Postery
(4)
Rok vydání
Agilent ICP-MS Journal (April 2018. Issue 72)
Ostatní
| 2018 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství, Polovodiče
UPF Evaluation of Fabric Products such as Functional Masks
Aplikace
| 2021 | Shimadzu
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Measuring the UV protection factor (UPF) of fabrics and clothing
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Influence of Voids on Fatigue Life of 3D Printed Titanium Alloy Specimens
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Elution Evaluation of Silver Compound-containing Antibacterial Fabric by Atomic Absorption Spectrophotometer
Aplikace
| 2021 | Shimadzu
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie
Analysis of 50 nm Silica Nanoparticles in Semiconductor Process Chemicals by spICP-MS/MS
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Direct Analysis of Trace Metal Impurities in High Purity Nitric Acid Using ICP-QQQ
Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Identification of Forensic Fabrics Using a Portable Raman Spectrometer
Aplikace
| N/A | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Forenzní analýza a toxikologie
Transitioning from PTFE to PFA
Ostatní
| 2018 | Savillex
Spotřební materiál
Instrumentace
Spotřební materiál
Výrobce
Savillex
Zaměření
Agilent Atomic Spectroscopy Solutions for the Semiconductor Industry
Příručky
| 2020 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
Instrumentace
ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Před
1
2
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
Měření čistoty malých objemů DNA při 4 °C s použitím Agilent Cary 60 UV-Vis spektrofotometru s optickým vláknem s mikrosondou
Út, 16.4.2024
Altium International
Stanovení nominální hodnoty koncentrace analytu a její nejistoty ve vodných kalibračních roztocích prvků primárními metodami
Po, 15.4.2024
ANALYTIKA
Tuk je možné vydolovat i z tisíce let staré keramiky, říká Veronika Brychová
Čt, 25.4.2024
Akademie věd České republiky
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.