Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Analysis of Multiple Trace Elements in Bleach by ICP-OES
Aplikace
| 2021 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Ostatní
KnowItAll DEA Controlled Substance Regulation System
Aplikace
| 2022 | Wiley
Software
Instrumentace
Software
Výrobce
Wiley
Zaměření
Farmaceutická analýza
Using IR and Raman to solve real-world problems - A KnowItAll polymer case study
Brožury a specifikace
| N/A | Wiley
Software, RAMAN Spektrometrie, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
Software, RAMAN Spektrometrie, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Wiley
Zaměření
Materiálová analýza
KnowItAll Microplastic Classification
Aplikace
| 2021 | Wiley
Software, RAMAN Spektrometrie, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
Software, RAMAN Spektrometrie, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Wiley
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza
Classification of Synthetic Cannabinoids by Bridge Carbonyl Bands in Vapor Phase IR
Technické články
| 2022 | Wiley
Software, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
Software, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Wiley
Zaměření
Forenzní analýza a toxikologie
Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample
Aplikace
| 2021 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Void Analysis and Shape Analysis of Automobile Inverter Components with X-Ray CT System
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector
Brožury a specifikace
| 2016 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, X-ray
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Mohlo by Vás zajímat
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.