ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Variable Angle Specular Reflectance Accessory (VASRA)

Brožury a specifikace | 2021 | Agilent TechnologiesInstrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Zaměření
Výrobce
Agilent Technologies

Souhrn

Význam tématu


Analýza úhlově závislé speculární odrazivosti povrchů je klíčová pro charakterizaci optických vrstev a povlaků používaných v průmyslu i výzkumu. Přesné měření odrazivosti při různých úhlech dopadu umožňuje stanovení indexu lomu i tloušťky tenkých filmů, což je nezbytné pro vývoj antireflexních povlaků, zrcadel či optických filtrů.

Cíle a přehled studie


Cílem dokumentu je představit příslušenství Variable Angle Specular Reflectance Accessory (VASRA) pro spektrofotometry Agilent Cary řady 4000 až 7000i, které automatizuje měření speculární odrazivosti při úhlech dopadu mezi 20° a 70°. Příručka popisuje konstrukci, funkci i praktické využití tohoto doplňku.

Použitá metodika a instrumentace


Přístrojová sestava a měřicí postup:
  • Spektrofotometry Agilent Cary 4000, 5000, 6000i nebo 7000i doplněné příslušenstvím VASRA.
  • Automatizovaný rotační stolek s paralelním posuvem vzorku pro udržení středového průchodu svazku světla.
  • Výměnné masky s otvory 2, 10 a 20 mm či kruhové držáky vzorků pro přizpůsobení velikosti světelného spotu.
  • Polymerní filmový polarizátor (rozsah 400–700 nm) a volitelný krystalový Glan–Taylor polarizátor/depolarizátor (350–2300 nm).
  • Možnost programování měření pod různými úhly dopadu v softwaru přístroje.

Hlavní výsledky a diskuse


Měření s příslušenstvím VASRA umožňuje:
  • Získat přesné spektrální křivky speculární odrazivosti při úhlech dopadu od 20° do 70°.
  • Stanovit index lomu a optické konstanty tenkých vrstev, antireflexních povlaků i zrcadel.
  • Analyzovat defekty na povrchu skla či vrstev díky změně intenzity odraženého světla.
Diskuse zdůrazňuje opakovatelnost měření, minimální geometrické chyby díky paralelnímu posuvu vzorku a široké možnosti polarizační analýzy.

Přínosy a praktické využití metody


Metoda nachází uplatnění při:
  • Vývoji antireflexních skel a filtrů v optickém průmyslu.
  • Kontrole kvality povlaků v polovodičovém a mikrosystémovém průmyslu.
  • Výzkumu pokročilých optických materiálů, včetně dynamických a adaptivních vrstev.

Budoucí trendy a možnosti využití


Očekávané směry rozvoje:
  • Integrace prostorového mapování odrazivosti pro analýzu nehomogenních vrstev.
  • Využití kombinované polarimetrii a spektrální elipsometrie pro komplexnější charakterizaci optických konstant.
  • In situ monitorování během depozice vrstev pro optimalizaci procesů.
  • Rozšíření rozměrů měřených vzorků a automatizovaná výměna příslušenství.

Závěr


Příslušenství VASRA pro spektrofotometry Agilent Cary poskytuje robustní, přesné a plně automatizované řešení pro měření speculární odrazivosti při různých úhlech dopadu. Výsledné spektrální data jsou klíčová pro stanovení optických parametrů tenkých vrstev a povlaků v řadě průmyslových i výzkumných aplikací.

Reference


  • Agilent Technologies Application Note 5991-2255EN, September 2021

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Toggle
AGILENT VARIABLE ANGLE SPECULAR REFLECTANCE ACCESSORY (VASRA)
AGILENT VARIABLE ANGLE SPECULAR REFLECTANCE ACCESSORY (VASRA)
2013|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
AGILENT VARIABLE ANGLE S SPECULAR PEECULL AR REFLECTANCE ACCESSORY (VASRA) (VA ASRA A) FOR THE CARY 4000/5000/6000i 0000i UV-VIS-NIR SPECTROPHOTOMETERS OMETERS For automated variable angle specularr reflectance measurements The Cary VASRA provides the ability to automatically omatically measure the specular…
Klíčová slova
vasra, vasrareflectance, reflectanceangle, angleangles, anglescary, caryrefractive, refractivespecular, specularlight, lightincidence, incidenceoptical, opticalcoatings, coatingsasra, asraometers, ometerspeecull, peecullspecularr
Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
Applications of UV-Vis-NIR Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy Application Compendium > Return to table of contents Table of contents Introduction  4 Optics  5 Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters  Evaluation of the Cary Specular Reflectance Accessory for…
Klíčová slova
optical, opticalreturn, returnreflectance, reflectancecontents, contentstable, tableangle, angleincidence, incidencemeasurements, measurementswavelength, wavelengthtransmittance, transmittancereflection, reflectionspectrophotometer, spectrophotometermeasurement, measurementcoating, coatingbeam
Agilent Cary 4000/5000/6000i Series UV-VIS-NIR Spectrophotometers
Agilent Cary 4000/5000/6000i Series UV-VIS-NIR Spectrophotometers
2022|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
Unrivaled. Precise. Consistent. Agilent Cary 4000/5000/6000i Series UV-VIS-NIR Spectrophotometers Unrivaled Agilent is your premier resource and partner for molecular spectroscopy. The world-renowned Cary product line, encompasses FTIR, UV-Vis-NIR and Fluorescence, offering you a comprehensive range of molecular spectroscopy solutions. Answers…
Klíčová slova
accessory, accessoryreflectance, reflectancewavelength, wavelengthdiffuse, diffusenir, nirabs, absholder, holdercary, caryangle, anglemeasurements, measurementsingaas, ingaascoatings, coatingsoptical, opticalsample, sampledra
Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors
Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors
2020|Agilent Technologies|Technické články
Application Note Materials testing and research Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors Multi-angle UV-Vis-NIR measurements of multiple layer optical coatings Author Introduction David Death Farinaz Haq Agilent Technologies, Australia Optical coatings and coating technologies have matured over many years…
Klíčová slova
incidence, incidencecoating, coatingmeasurements, measurementstransmittance, transmittancesitu, situnormal, normalcoatings, coatingsoptical, opticallayer, layerreflectance, reflectancereverse, reverseengineering, engineeringaoi, aoisuprasil, suprasildeposited
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.