Enhanced Helium Collision Mode with Agilent ORS4 Cell
Technické články | 2020 | Agilent TechnologiesInstrumentace
Efektivní odstranění polyatomových interferencí je klíčové pro přesnou kvantifikaci stopových prvků v ICP-MS, zejména v laboratorních a průmyslových aplikacích s neznámým či proměnlivým složením vzorků. Kinetická energetická diskriminace v heliovém režimu (He mode) se díky jednoduchosti a široké použitelnosti stala preferovanou metodou na jednochromátových ICP-MS přístrojích.
Cílem předložené technologie je představit vylepšený heliový režim na Agilent ICP-MS systémech vybavených buňkou ORS4. Studie demonstruje, že díky optimalizaci konstrukce buňky lze dosáhnout výrazně lepšího rozlišení mezi analytem a interferencemi bez použití reaktivních plynů, což umožňuje sledování prvků, jako je Se, Si, P či S, na úrovních jednotek až desítek ppt/ppb.
Metody:
Srovnání energie iontů ukázalo, že vylepšený He režim výrazně zmenšuje překryv energie mezi ionty Selenu (analyt, 78Se) a Ar2 (interferenční ionty), což vede k účinnější diskriminaci. Optimalizace průtoku He pro 78Se vedla k detekčnímu limitu (DL) 4,52 ppt a ekvivalentní koncentraci pozadí (BEC) 2,66 ppt bez reaktivního plynu.
Pro další prvky byly v ORS4 He režimu stanoveny následující hodnoty:
Metoda nabízí:
Očekává se další rozvoj optimalizace buňky a průtokových parametrů, což umožní rozšířit aplikaci i na další prvky a matice. Kombinace vylepšeného He režimu s hyphenovanými technikami či ICP-MS/MS přinese ještě vyšší selektivitu. Potenciál nachází uplatnění v environmentální, potravinářské, klinické a průmyslové analýze.
Vylepšený heliový režim s buňkou ORS4 na Agilent ICP-MS přístrojích přináší významné zlepšení odstranění polyatomových interferencí a umožňuje měřit prvky Se, Si, P a S na úrovních ppt–ppb bez použití reaktivních plynů, což zjednodušuje laboratorní workflow a rozšiřuje možnosti rutinních analýz.
ICP/MS
ZaměřeníVýrobceAgilent Technologies
Souhrn
Význam tématu
Efektivní odstranění polyatomových interferencí je klíčové pro přesnou kvantifikaci stopových prvků v ICP-MS, zejména v laboratorních a průmyslových aplikacích s neznámým či proměnlivým složením vzorků. Kinetická energetická diskriminace v heliovém režimu (He mode) se díky jednoduchosti a široké použitelnosti stala preferovanou metodou na jednochromátových ICP-MS přístrojích.
Cíle a přehled studie / článku
Cílem předložené technologie je představit vylepšený heliový režim na Agilent ICP-MS systémech vybavených buňkou ORS4. Studie demonstruje, že díky optimalizaci konstrukce buňky lze dosáhnout výrazně lepšího rozlišení mezi analytem a interferencemi bez použití reaktivních plynů, což umožňuje sledování prvků, jako je Se, Si, P či S, na úrovních jednotek až desítek ppt/ppb.
Použitá metodika a instrumentace
Metody:
- Kinetická energetická diskriminace (KED) v heliovém režimu.
- Srovnání konvenčního He režimu se zvýrazněným režimem v buňce ORS4.
- ICP-MS Agilent vybavený Octopole Reaction System (ORS4) s dlouhým vysokofrekvenčním oktopólem.
- Možnost vysokého průtoku buňky a širšího bias napětí pro zvýšení kolizní energie.
Hlavní výsledky a diskuse
Srovnání energie iontů ukázalo, že vylepšený He režim výrazně zmenšuje překryv energie mezi ionty Selenu (analyt, 78Se) a Ar2 (interferenční ionty), což vede k účinnější diskriminaci. Optimalizace průtoku He pro 78Se vedla k detekčnímu limitu (DL) 4,52 ppt a ekvivalentní koncentraci pozadí (BEC) 2,66 ppt bez reaktivního plynu.
Pro další prvky byly v ORS4 He režimu stanoveny následující hodnoty:
- Si (28): DL 0,161 ppb, BEC 9,92 ppb
- P (31): DL 0,17 ppb, BEC 0,29 ppb
- S (34): DL 8,94 ppb, BEC 187 ppb
Přínosy a praktické využití metody
Metoda nabízí:
- Jednoduchou operaci s jediným pracovním plynem (He).
- Možnost multi-prvkové analýzy na jednochromátovém ICP-MS bez přídavných filtrů.
- Vyšší citlivost a nižší pozadí pro prvky obtížně měřitelné konvenčním He režimem.
- Využití potvrzovacích izotopů bez nutnosti měnit režim.
Budoucí trendy a možnosti využití
Očekává se další rozvoj optimalizace buňky a průtokových parametrů, což umožní rozšířit aplikaci i na další prvky a matice. Kombinace vylepšeného He režimu s hyphenovanými technikami či ICP-MS/MS přinese ještě vyšší selektivitu. Potenciál nachází uplatnění v environmentální, potravinářské, klinické a průmyslové analýze.
Závěr
Vylepšený heliový režim s buňkou ORS4 na Agilent ICP-MS přístrojích přináší významné zlepšení odstranění polyatomových interferencí a umožňuje měřit prvky Se, Si, P a S na úrovních ppt–ppb bez použití reaktivních plynů, což zjednodušuje laboratorní workflow a rozšiřuje možnosti rutinních analýz.
Reference
- Agilent Technologies. Enhanced Helium Collision Mode with Agilent ORS4 Cell. Application note DE44140.8951157407, November 2020.
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
ENHANCED HELIUM MODE CELL PERFORMANCE FOR IMPROVED INTERFERENCE REMOVAL IN ICP-MS
2015|Agilent Technologies|Ostatní
Agilent 7800 Quadrupole ICP-MS ENHANCED HELIUM MODE CELL PERFORMANCE FOR IMPROVED INTERFERENCE REMOVAL IN ICP-MS Helium collision mode in ICP-MS Enhanced helium mode performance in the ORS4 Helium (He) mode with kinetic energy discrimination (KED) is the preferred mode for…
Klíčová slova
cell, cellcollision, collisionhelium, heliumenergy, energygas, gascollisional, collisionalmode, modecps, cpshigher, higherkinetic, kineticenhanced, enhancedicp, icpindividual, individualeffective, effectiveion
WCPS: Enhancing Helium Mode Performance to Provide Improved Detection Limits for Difficult Elements Including S, P, Fe, and Se
2011|Agilent Technologies|Postery
PC-013 Enhancing Helium Mode Performance to Provide Improved Detection Limits for Difficult Elements Including S, P, Fe, and Se Ed McCurdy, Naoki Sugiyama and Steve Wilbur, Agilent Technologies 2011 European Winter Conference on Plasma Spectrochemistry, Zaragoza, Spain Helium (He) Collision…
Klíčová slova
interferences, interferencescollision, collisionpolyatomic, polyatomicelements, elementscps, cpscell, cellmode, modereaction, reactionked, kedarcl, arclresidual, residualclo, cloall, allmatrix, matrixenergy
Resolving REE2+ Overlaps on Arsenic and Selenium With Hydrogen Cell Gas
2021|Agilent Technologies|Technické články
Technical Overview Resolving REE2+ Overlaps on Arsenic and Selenium With Hydrogen Cell Gas Accurate analysis of As and Se in a REE matrix using Agilent single quadrupole ICP-MS Introduction ICP-MS is the technique of choice for rapid multi-element analysis of…
Klíčová slova
icp, icpked, kedcell, cellcorrection, correctionppb, ppbdoubly, doublyree, reepolyatomic, polyatomicbias, biascollision, collisioninterferences, interferenceshalf, halfgas, gaselements, elementsoverlaps
Technical Overview and Performance Capability of the Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications
2020|Agilent Technologies|Technické články
White Paper Technical Overview and Performance Capability of the Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications Introduction Agilent ICP-MS systems are widely used for accurate low-level analysis of trace contaminants across a wide range of high-purity chemicals used in the semiconductor…
Klíčová slova
plasma, plasmaicp, icpcool, coolhot, hotbec, beccou, couagilent, agilentsemiconductor, semiconductoripa, ipapolyatomic, polyatomictive, tiveelements, elementsintelliquant, intelliquantundiluted, undilutedimproved