ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Unproductive Time Traps in ICP-MS Analysis and How to Avoid Them

Příručky | 2021 | Agilent TechnologiesInstrumentace
ICP/MS
Zaměření
Výrobce
Agilent Technologies

Souhrn

Význam tématu


Induktivně vázaná plazma s hmotnostní spektrometrií (ICP-MS) je klíčová pro analýzu stopových a hlavních prvků napříč průmyslovými i regulačními aplikacemi. Neefektivní nastavení metod a pracovních postupů však vede k časovým ztrátám, chybám, nižší produktivitě, demotivaci personálu a riziku nesprávných výsledků.

Cíle a přehled článku


Článek identifikuje deset nejrozšířenějších „časových pastí“ v běžných ICP-MS protokolech (od přípravy vzorků po reporting) a nabízí osvědčené postupy, jak je minimalizovat nebo zcela eliminovat s využitím moderních nástrojů a technologií.

Použitá metodika a instrumentace


  • Agilent 7850 ICP-MS s helium-modem v kolizně-reakčním článku a Ultra High Matrix Introduction (UHMI) pro až 25 % TDS.
  • Softwarové funkce MassHunter: předdefinované šablony, Early Maintenance Feedback (EMF), IntelliQuant, Outlier Conditional Formatting (OCF).
  • Metody podle EPA 200.8, ISO 17294, USP/ICH farmaceutických norem; polomnožinové HPLC-podobné nastavení měřených prvků.

Hlavní výsledky a diskuse


  • Předem připravené metody a automatická optimalizace zkracují dobu zaškolení a minimalizují chyby při ručním nastavování parametrů.
  • He-modus spolehlivě odstraňuje většinu polyatomových interferencí, polomass correction pak koriguje interferenci dvojitě nabitých iontů.
  • UHMI výrazně snižuje potřebu kapalných ředění, čímž šetří čas a spotřební materiál.
  • Integrované výkonové testy a EMF upozornění předcházejí neplánovaným odstávkám a neefektivnímu servisu.
  • IntelliQuant semikvantitativně detekuje nepředvídané prvky a matice, OCF usnadňuje identifikaci odchylek a nekonzistentních dat.

Přínosy a praktické využití metody


  • Redukce manuálních zásahů a rutinních údržbových procesů na nezbytné minimum díky inteligentním senzorům a notifikacím.
  • Ztráty vzorků a opakované analýzy se snižují díky stabilizaci vzorků přídavkem HCl a včasné detekci problémů prostřednictvím ISTD signálů.
  • Jednorázové měření stopových i hlavních prvků optimalizuje workflow a usnadňuje správu dat.
  • Konsistentní kvalita výsledků a lepší využití personálu díky automatizaci kontroly kvality (QC) a datové analýzy.

Závěr


Systematická optimalizace ICP-MS pracovních postupů, zahrnující moderní instrumentaci, přednastavené metody a pokročilé softwarové funkce, významně zvyšuje produktivitu, kvalitu výsledků a snižuje provozní náklady laboratoře.

Budoucí trendy a možnosti využití


  • Využití umělé inteligence a strojového učení pro prediktivní údržbu a autonomní optimalizaci metod.
  • Rozvoj plně automatizovaných laboratoří s dálkovým přístupem a kontrolou v reálném čase.
  • Integrace ICP-MS systémů s LIMS a cloudovými platformami zajišťujícími plynulé datové toky a reporting.

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Toggle
Agilent 7850 ICP-MS
Agilent 7850 ICP-MS
2024|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
Agilent 7850 ICP-MS Free your workflow from common time traps Time Traps in your ICP-MS Laboratory At every stage of a routine ICP-MS analysis workflow, unproductive and often unnecessary activities—time traps—can eat into your productivity and profitability. The costs to…
Klíčová slova
your, youricp, icptraps, trapsyou, youmaintenance, maintenancetime, timeavoid, avoidagilent, agilentreduce, reducepromise, promiseunnecessary, unnecessarytraining, traininglab, labcommon, commoninvestment
Are you measuring ICP-OES samples more than once?
Are you measuring ICP-OES samples more than once?
2019|Agilent Technologies|Příručky
Are you measuring ICP-OES samples more than once? How to stop time-wasting remeasurements The Story of Luke Luke (not his real name), was an analyst at Always Right Labs. His job included analyzing samples on an ICP-OES, as well as…
Klíčová slova
causes, causesproblem, problemremeasure, remeasuresamples, sampleswhat, whatyou, youelement, elementoes, oesincorrect, incorrectproblems, problemsremeasuring, remeasuringsample, samplecan, canpoor, pooryour
14 Causes of Metals Analysis Failure
14 Causes of Metals Analysis Failure
2020|Agilent Technologies|Příručky
14 Causes of Metals Analysis Failure Learn how to avoid these common problems The Story of Luke Luke (not his real name), was an analyst at Always Right Labs. His job included analyzing samples on an ICP-OES, as well as…
Klíčová slova
causes, causesproblem, problemremeasure, remeasuresamples, sampleswhat, whatproblems, problemselement, elementyou, youincorrect, incorrectremeasuring, remeasuringsample, samplecan, canpoor, pooroes, oesyour
How to Reduce ICP-OES Remeasurement Caused by Sample Problems and Errors
How to Reduce ICP-OES Remeasurement Caused by Sample Problems and Errors Tips and advice to prevent time-wasting remeasurement of samples, from an ICP-OES expert Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectroscopy (ICP-OES) is a well-established technique for the measurement of elements…
Klíčová slova
oes, oesicp, icpintelliquant, intelliquantsample, samplecan, canemission, emissionyou, youelements, elementsmistakes, mistakesremeasure, remeasureproblems, problemswhat, whatyour, yourhave, havesamples
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.