ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

High-Speed Residual Stress Measurement by X-Ray Diffraction (Linear Guide)

Aplikace | 2019 | ShimadzuInstrumentace
XRD
Zaměření
Materiálová analýza
Výrobce
Shimadzu

Souhrn

Význam tématu


Zbytková pnutí v materiálech zásadním způsobem ovlivňují životnost a spolehlivost mechanických dílů. Jejich přesné a rychlé stanovení je klíčové pro hodnocení odolnosti a optimalizaci výrobních a tepelných procesů, zejména v automobilovém průmyslu.

Cíle a přehled studie


  • Ukázat využití OneSight širokopásmového detektoru pro vysokorychlostní měření zbytkových pnutí.
  • Ověřit efektivitu One-Shot režimu v rámci měření v lineárním vedení.

Použitá metodika a instrumentace


  • Metoda: boční naklápění (side-inclination) pro stanovení zbytkových pnutí z difrakčních dat.
  • Zařízení: rentgenový difraktometr XRD-7000 se stress measurement attachment a detektorem OneSight.
  • X-ray parametry: Cr cílek, 40 kV, 40 mA, V filtr.
  • Měřící podmínky: 2θ fixní úhel 156,1°, ψ úhly 0°, 16,8°, 24,1°, 30°, 35,3°, 40,2°, 45°; doba integrace 20 s na každý úhel (celkem 140 s).
  • Analytická rovina: α-Fe 211.

Hlavní výsledky a diskuse


  • Lineární závislost 2θψχ na sin2ψ potvrdila korektnost měřicí metodiky.
  • Naměřená zbytková tlaková pnutí σx dosáhla hodnoty –273,0 ± 7,0 MPa.
  • Stanovená konstanta K pro přepočet ze sklony byla –318,1277 MPa/deg.

Přínosy a praktické využití metody


  • Výrazné zkrácení doby měření (140 s vs klasické metody vyžadující desítky minut).
  • Vysoká propustnost dat vhodná pro rutinní průmyslové kontroly kvality.
  • Aplikace v hodnocení trvanlivosti dílů, řízení tepelného zpracování a zpětné vazbě ve výrobním provozu.

Budoucí trendy a možnosti využití


  • Zapojení širokopásmových detektorů do inline systémů a automatizovaných linek kvality.
  • Další optimalizace algoritmů datové analýzy pro snížení doby akvizice a zvýšení citlivosti.
  • Rozšíření metody na analýzu tenkých povlaků, kompozitních materiálů a inovativních kovových slitin.

Závěr


OneSight detektor v kombinaci s One-Shot režimem a metodou bočního naklápění umožňuje rychlé a spolehlivé stanovení zbytkových pnutí v kovových dílech. Díky vysoké rychlosti a přesnosti je metoda vhodná pro průmyslové aplikace a podporuje zlepšení kontroly kvality výrobků.

Reference


  • Application No. X259A, Shimadzu Corporation.

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Toggle
High-Speed X-Ray Diffraction Analysis of Medicine Using OneSight Wide-Range High-Speed Detector
LAAN-A-XR-E032 Application News X258 X-ray Analysis High-Speed X-Ray Diffraction Analysis of Medicine Using OneSight Wide-Range High-Speed Detector No. Table 1 Analytical Conditions n OneSight Wide-Range High-Speed Detector The OneSight wide-range high-speed detector consists of a semiconductor array with more than…
Klíčová slova
onesight, onesightray, rayspeed, speeddiffraction, diffractionpolymorphism, polymorphismdetector, detectorcounts, countsmode, modemonochromatization, monochromatizationmeasurement, measurementhigh, highshot, shotcrystal, crystalrange, rangemedicine
Shimadzu OneSight Wide-Range High-Speed Detector for XRD-6100/7000
C141-E007A Wide-Range High-Speed Detector for XRD-6100/7000 OneSight Shimadzu X-ray Diffractometers for XRD-6100/7000 OneSight Wide-Range High-Speed Detector TM Wide-Range High-Speed Detector Achieves High-Speed, High-Sensitivity Performance The OneSight is a wide-range high-speed detector consisting of a number of semiconductor devices. It is…
Klíčová slova
onesight, onesightdiffraction, diffractionwindow, windowgoniometer, goniometerangle, anglewide, widedir, dirmeasurement, measurementstatus, statussca, scadisplay, displayect, ectspeed, speeddetector, detectoring
High-Speed X-Ray Diffraction Analysis of Asbestos (Chrysotile) Using Wide-Range High-Speed Detector "OneSight"
LAAN-A-XR-E031 Application News X257 No. X-ray Analysis High-Speed X-Ray Diffraction Analysis of Asbestos (Chrysotile) Using Wide-Range High-Speed Detector "OneSight" n Introduction Asbestos is a material that has long been widely used as a building material due to its excellent heat…
Klíčová slova
asbestos, asbestosray, raydiffraction, diffractionmonochromation, monochromationmeasurement, measurementonesight, onesightshot, shotspeed, speedbase, baseintegration, integrationscintillation, scintillationordinance, ordinancedetector, detectorfilter, filterconducted
Quantitative Analysis of Calcium Compounds by Rietveld Method
LAAN-A-XR-E041 Application News No. X-Ray Diffraction Quantitative Analysis of Calcium Compounds by Rietveld Method X268 – Phase Identification by Match!3 and Rietveld Analysis by FullProf – The Rietveld method (Rietveld refinement) is a crystal structure analysis technique that enables analysis…
Klíčová slova
hap, hapcrystal, crystalrietveld, rietveldhydroxyapatite, hydroxyapatiteray, raydiffraction, diffractioncalcium, calciumcomponent, componentcalcite, calcitelattice, latticestructure, structurepattern, patternscan, scananalysis, analysiscomponents
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.