ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

High Volume Optical Component Testing

Aplikace | 2020 | Agilent TechnologiesInstrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Zaměření
Materiálová analýza
Výrobce
Agilent Technologies

Souhrn

Význam tématu


Vysoce přesné stanovení optických vlastností tenkých vrstev je klíčové pro kontrolu kvality optických povlaků používaných v přístrojové technice, telekomunikacích a dalších oborech. Tradiční přístupy vyžadují samostatné měření odrazivosti a propustnosti, což vede k chybám způsobeným přesunem vzorku a změnou úhlu dopadu. Metoda Multi-Angle Photometric Spectroscopy (MPS) integrovaná v Agilent Cary 7000 Universal Measurement Spectrophotometer (UMS) s automatickým podavačem pevných vzorků (Solids Autosampler) umožňuje měření z téhož bodu bez opětovné polohy vzorku.

Cíle a přehled studie


Studie demonstruje zvýšení produktivity a snížení nákladů na analýzu prostým nasazením automatizovaného systému pro vícenásobné měření odrazivosti a propustnosti na jednotném vzorku i na řadě vzorků. Prokázána je shoda naměřených dat s teoretickými hodnotami vypočtenými z Fresnelových rovnic pro různé úhly dopadu a polarizace.

Použitá metodika a instrumentace


Metoda MPS umožňuje sekvenční měření absolutní speculární odrazivosti a přímé propustnosti v rozsahu vlnových délek 250–2500 nm při úhlech dopadu od téměř normálního až po 82°. Data se sbírají pro S a P polarizaci, přičemž jsou odečteny signály z kladných i záporných úhlů a následně průměrně korigovány.

Použitá instrumentace


  • Agilent Cary 7000 Universal Measurement Spectrophotometer (UMS) pro MPS
  • Agilent Solids Autosampler pro automatické podávání až 32 vzorků

Hlavní výsledky a diskuse


Jednovzorková analýza 1 mm křemene prokázala výbornou shodu s Fresnelovými výpočty v rozsahu úhlů 0–82°. Vícevzorková analýza 11 kusů 1 mm křemene proběhla automaticky za méně než 8 hodin, přičemž průměrné odchylky od teorie zůstaly v řádu stovek setin procenta. Stabilita systému a přesnost montáže vzorků zajistily reprodukovatelnost a kontinuální sběr bez uživatelského zásahu.

Přínosy a praktické využití metody


Zavedení Cary 7000 UMS s automatickým podavačem snižuje dobu a náklady na QA/QC optických povlaků, odstraňuje chybovost při přemísťování vzorků a umožňuje spolehlivou výrobu vysoce přesných optických komponent. Data lze využít pro validaci návrhů povlaků i pro zpětné inženýrství složitých vrstev.

Budoucí trendy a možnosti využití


Další rozvoj automatizovaných MPS systémů směřuje k rozšíření měření difúzní odrazivosti a propustnosti, integraci polarizační kontroly a analýze nestandardních tvarů vzorků. Vysoká automatizace umožní kontinuální monitorování výrobních linek a rychlou adaptaci na složité vícevrtstvé struktury.

Závěr


Agilent Cary 7000 UMS s Solids Autosampler nabízí plně automatizované vícenásobné měření odrazivosti a propustnosti z jednoho bodu vzorku s velmi nízkými odchylkami oproti teoretickému modelu. Systém významně zvyšuje produktivitu a spolehlivost QA/QC optických povlaků a snižuje náklady na analýzy.

Reference


  • Death D.L.; Francis R.J.; Bricker C.; Burt T.; Colley C. The UMA: A new tool for Multi-angle Photometric Spectroscopy. Proceedings of the Optical Interference Coatings (OIC) OSA Topical Meeting, Canada, 2013.
  • Tikhonravov A.V.; Amotchkina T.V.; Trubetskov M.K.; Francis R.J.; Janicki V.; Sancho-Parramon J.; Zorc H.; Pervak V. Optical characterization and reverse engineering based on multiangle spectroscopy. Applied Optics 2012, 51, 245–254.
  • Amotchkina T.V.; Trubetskov M.K.; Tikhonravov A.V.; Janicki V.J.; Sancho-Parramon J.; Razskazovskaya O.; Pervak V. Oscillations in the spectral behavior of total losses (1–T–R) in dielectric films. Optics Express 2012, 20, 16129–16144.
  • Amotchkina T.V.; Trubetskov M.K.; Tikhonravov A.V.; Schlichting S.; Ehlers H.; Ristau D.; Death D.L.; Francis J.J.; Pervak V. Quality control of oblique incidence optical coatings based on normal incidence measurement data. Optics Express 2013, 21, 21508–21522.

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Toggle
Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
Applications of UV-Vis-NIR Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy Application Compendium > Return to table of contents Table of contents Introduction  4 Optics  5 Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters  Evaluation of the Cary Specular Reflectance Accessory for…
Klíčová slova
optical, opticalreturn, returnreflectance, reflectancecontents, contentstable, tableangle, angleincidence, incidencemeasurements, measurementstransmittance, transmittancewavelength, wavelengthreflection, reflectionspectrophotometer, spectrophotometermeasurement, measurementcoating, coatingbeam
Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors
Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors
2020|Agilent Technologies|Technické články
Application Note Materials testing and research Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors Multi-angle UV-Vis-NIR measurements of multiple layer optical coatings Author Introduction David Death Farinaz Haq Agilent Technologies, Australia Optical coatings and coating technologies have matured over many years…
Klíčová slova
incidence, incidencecoating, coatingmeasurements, measurementstransmittance, transmittancesitu, situnormal, normalcoatings, coatingsoptical, opticallayer, layerreflectance, reflectancereverse, reverseengineering, engineeringaoi, aoisuprasil, suprasildeposited
Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
Application Note Materials testing and research Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements Using an Agilent Cary 7000 Universal Measurement Spectrophotometer (UMS) with Solids Autosampler Author Travis Burt Farinaz Haq Agilent Technologies, Inc. Introduction Spectral reflection (R)…
Klíčová slova
zto, ztowafer, wafergap, gapband, bandtin, tintransmission, transmissiondiameter, diameteroxide, oxidereflection, reflectionzinc, zincangles, angleshipims, hipimsdcms, dcmsmapping, mappinggraded
Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer
Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer
2022|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
Advance Your Materials Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer A More Powerful Approach to Measuring Solid Samples Do you measure the optical properties of coatings, thin films, optical components, solar cells, or glass? Do you measure reflectance AND transmission? Do…
Klíčová slova
optical, opticalreflectance, reflectancetransmission, transmissioncary, carynir, nirsolar, solarabsolute, absolutewavelength, wavelengthvis, viswinuv, winuvyour, yourmeasurements, measurementsmaterials, materialsmoving, movingscattering
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.