Pomůžeme Vám nalézt vhodné zařízení pro tepelnou analýzu, metalografii nebo hmotnostní spektrometrii a poskytneme Vám školení, aplikační podporu a servis, který potřebujete k udržení chodu laboratoře na nejvyšší možné úrovni.

Distributor

LECO Instrumente Plzeň, spol. s r.o.

+420 702 008 343

AES (Atomová emisní spektrometrie)

GD-AES

LECO GDS900 Atomový emisní spektrometr s doutnavým výbojemSpektrometr GDS900 s doutnavým výbojem představuje moderní technologii navrženou pro rutinní stanovení prvkového složení v širokém spektru vodivých pevných materiálů.

O produktu

LECO GDS900 Atomový emisní spektrometr s doutnavým výbojem

Spektrometr GDS900 s doutnavým výbojem představuje moderní technologii navrženou pro rutinní stanovení prvkového složení v širokém spektru vodivých pevných materiálů. Uživatelsky přívětivý software Cornerstone společnosti LECO zajišťuje snadné ovládání, zjednodušuje tvorbu analytických protokolů a zkracuje dobu analýzy, čímž zvyšuje efektivitu laboratorní práce.

Vlastnosti

Výhody doutnavého výbojového zdroje:

Jednoduchá, lineární kalibrace ve srovnání s jinými typy zdrojů
Řízené buzení mimo samotný povrch vzorku
Nižší spotřeba referenčních materiálů
Automatické čištění mezi analýzami šetří čas a snižuje vliv matrice, což zvyšuje analytickou přesnost

Detekční systém poskytuje stabilitu, flexibilitu a vysoký výkon díky následujícím parametrům:

Rozsah vlnových délek: 160–460 nm
Spektrální rozlišení 50 pm (0,050 nm) umožňuje rozlišení i složitých spekter

Možnost rozšíření o volitelný modul CDP pro hloubkovou analýzu

Hloubkový profil složení pevných elektricky vodivých materiálů
Ideální pro analýzu povrchových úprav, jako je pokovování, pozinkování, oplášťování a další vodivé vrstvy

Uživatelsky přívětivý software Cornerstone umožňuje snadnou analýzu a efektivní tvorbu protokolů

Použití

Model GDS950 je ideální pro celkové stanovení prvkového složení kovů a dalších pevných materiálů, jako je ocel, litina, titan a jiné technické slitiny.

Při použití volitelného modulu CDP umožňuje přístroj také získávání hloubkového profilu složení povrchových vrstev – například u pozinkování, pokovování, tepelně upravených vrstev nebo oplášťování.

LECO GDS900 Atomový emisní spektrometr s doutnavým výbojem.

Princip

Spektrometrie s doutnavým výbojem (GDS) je analytická metoda používaná pro přímé stanovení prvkového složení pevných materiálů. Výbojový zdroj je vakuován, čím se připravený plochý vzorek se připevní. Vakuový zdroj je následně opět naplněn argonem. Mezi vzorkem (katoda) a elektricky uzemněným tělem lampy (anoda) se vybudí konstantní elektrické pole. Za těchto podmínek vzniká stabilní výboj známý jako doutnavý výboj.

Napětí je regulováno vysokonapěťovým zdrojem a proud je udržován regulací tlaku argonu. Po zažehnutí plazmatu jsou ionty inertního plynu urychlovány elektrickým polem směrem ke katodě. Při procesu zvaném katodické rozprašování dochází k přenosu kinetické energie z iontů plynu na atomy na povrchu vzorku, což vede k jejich uvolnění do plazmatu.

Po uvolnění atomů do plazmatu dochází k jejich srážkám s energetickými elektrony a metastabilními atomy argonu. Tyto srážky způsobují excitaci – tedy přechod atomů do vyšší energetické hladiny. Nabuzené atomy se následně uvolňují zpět do nižšího energetického stavu a při tom emitují fotony. Vlnová délka vyzářeného fotonu závisí na elektronové konfiguraci atomu, z něhož byl emitován. Protože každý prvek má jedinečnou elektronovou konfiguraci, lze jej jednoznačně identifikovat na základě jeho charakteristického emisního spektra.

Emisní záření vznikající při doutnavém výboji je analyzováno pomocí optického spektrometru. Aby bylo zajištěno bezchybné šíření ultrafialového a viditelného světla v rozsahu 160–460 nm, je celý optický systém proplachován argonem. Seskupení Charge-Coupled Device (CCD), jsou umístěna v ohniskové rovině tak, aby bylo zaznamenáno celé emisní spektrum od 160 do 460 nm.

CCD detektory převádějí spektrální signál na elektrický impuls, který je následně digitalizován a zpracován. Při zpracování dochází k odstranění temného proudu, normalizaci odezvy jednotlivých pixelů, rozšíření dynamického rozsahu a potlačení nežádoucí pixelace.
Jelikož počet emitovaných fotonů je úměrný relativní koncentraci prvku ve vzorku, lze výsledné koncentrace stanovit kalibrací pomocí referenčních materiálů se známým složením.