ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

ICPMS webináře se zaměřením na ICP/MS - strana 19

Effortless Trace Element Analysis: Avoid Common Time Traps with a Smart ICP-MS

Effortless Trace Element Analysis: Avoid Common Time Traps with a Smart ICP-MS

Zjistěte, jak pokroky v ICP-MS uvolňují skutečný potenciál této techniky tím, že odstraňují překážky a poskytují významné poznatky, které zjednodušují pracovní postupy a snižují běžné časové pasti při analýze.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Effortless Trace Element Analysis: Avoid Common Time Traps with a Smart ICP-MS
Single-Cell-ICP-MS Evaluations in Yeast, Green Alga, and Red Blood Cell Using Agilent 8900 ICP-QQQ

Single-Cell-ICP-MS Evaluations in Yeast, Green Alga, and Red Blood Cell Using Agilent 8900 ICP-QQQ

Pro ověření metody Single Cell (SC)-ICP-MS byla provedena hodnocení ve třech typech buněk a hmotnost analytu byla v dobré shodě s konvenčními údaji ICP-MS.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Single-Cell-ICP-MS Evaluations in Yeast, Green Alga, and Red Blood Cell Using Agilent 8900 ICP-QQQ
Characterization of Synthesized Iron Nanoparticles in Hydrocarbon Matrices by Single Particle (sp) ICP-MS

Characterization of Synthesized Iron Nanoparticles in Hydrocarbon Matrices by Single Particle (sp) ICP-MS

Metoda spICP-MS na přístroji Agilent 7900 ICP-MS použitá k charakterizaci syntetizovaných Au a Fe NP RM. Standardní referenční materiál (SRM) NIST pro surovou ropu.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Characterization of Synthesized Iron Nanoparticles in Hydrocarbon Matrices by Single Particle (sp) ICP-MS
Agilent M Lens for ICP-MS and the Semiconductor Industry

Agilent M Lens for ICP-MS and the Semiconductor Industry

Jak funguje objektiv M a jeho použití v polovodičovém průmyslu.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Agilent M Lens for ICP-MS and the Semiconductor Industry
Single Particle ICP-MS Applications in Advanced Semiconductor Processes

Single Particle ICP-MS Applications in Advanced Semiconductor Processes

Dvě nedávno vyvinuté aplikace ve dvou kritických polovodičových procesech, ultrafiltraci a chemicko-mechanické planarizaci (CMP).
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Single Particle ICP-MS Applications in Advanced Semiconductor Processes
Food and Cannabis Elemental Analysis Part 1: Elemental Workflows in the Food and Cannabis Lab

Food and Cannabis Elemental Analysis Part 1: Elemental Workflows in the Food and Cannabis Lab

Portfolio prvků Agilent. Silné stránky jednotlivých přístrojů a způsob, jakým splňují výzvy, s nimiž se potýkají laboratoře zabývající se potravinami a konopím.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Food and Cannabis Elemental Analysis Part 1: Elemental Workflows in the Food and Cannabis Lab
Demonstration of Trace Metals and Electronic Grade Materials Analysis Techniques and Strategies on live Instrumentation.

Demonstration of Trace Metals and Electronic Grade Materials Analysis Techniques and Strategies on live Instrumentation.

ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Demonstration of Trace Metals and Electronic Grade Materials Analysis Techniques and Strategies on live Instrumentation.
ICPGO – Fast, Easy, GO! – Elemental Analysis Made Easy

ICPGO – Fast, Easy, GO! – Elemental Analysis Made Easy

Funkce a možnosti ICPGo.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
ICPGO – Fast, Easy, GO! – Elemental Analysis Made Easy
ICP-MS Maintenance, Tips and Tricks

ICP-MS Maintenance, Tips and Tricks

Techniky běžné údržby a způsoby vyladění systému pro zajištění nejvyšší přesnosti u obtížných matric a prvků, které jsou obvykle problematické.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
ICP-MS Maintenance, Tips and Tricks
Ultratrace Element Analysis By ICP-MS/MS Under Robust Conditions Using Ion Optic Lenses

Ultratrace Element Analysis By ICP-MS/MS Under Robust Conditions Using Ion Optic Lenses

Metody odstraňování rušivých vlivů používané k dosažení BEC na úrovni nižší než ppt pro prvky SEMI, včetně kritických kovových (vodivých) nečistot.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Ultratrace Element Analysis By ICP-MS/MS Under Robust Conditions Using Ion Optic Lenses
 

Mohlo by Vás zajímat

Jeden přístroj: Sedm kritických vlastností tryskového paliva

Jeden přístroj: Sedm kritických vlastností tryskového paliva

St, 13.5.2026
Anton Paar
Webináře LabRulezICPMS týden 20/2026

Webináře LabRulezICPMS týden 20/2026

Po, 11.5.2026
LabRulez
Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“

Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“

Pá, 8.5.2026
CXI TUL
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.