ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

ICPMS webináře se zaměřením na ICP/MS - strana 19

Determination of Elements in Foods in Accordance with US FDA EAM 4.7 ICP-MS Method

Determination of Elements in Foods in Accordance with US FDA EAM 4.7 ICP-MS Method

Na tomto webovém semináři se seznámíme s verzí EAM 4.7 a ukážeme si, jak tuto zkušební metodu provést na příkladech dat z mnoha různých typů potravin.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Determination of Elements in Foods in Accordance with US FDA EAM 4.7 ICP-MS Method
Demonstration of Trace Metals and Electronic Grade Materials Analysis Techniques and Strategies on live Instrumentation.

Demonstration of Trace Metals and Electronic Grade Materials Analysis Techniques and Strategies on live Instrumentation.

ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Demonstration of Trace Metals and Electronic Grade Materials Analysis Techniques and Strategies on live Instrumentation.
Food and Cannabis Elemental Analysis Part 1: Elemental Workflows in the Food and Cannabis Lab

Food and Cannabis Elemental Analysis Part 1: Elemental Workflows in the Food and Cannabis Lab

Portfolio prvků Agilent. Silné stránky jednotlivých přístrojů a způsob, jakým splňují výzvy, s nimiž se potýkají laboratoře zabývající se potravinami a konopím.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Food and Cannabis Elemental Analysis Part 1: Elemental Workflows in the Food and Cannabis Lab
Single Particle ICP-MS Applications in Advanced Semiconductor Processes

Single Particle ICP-MS Applications in Advanced Semiconductor Processes

Dvě nedávno vyvinuté aplikace ve dvou kritických polovodičových procesech, ultrafiltraci a chemicko-mechanické planarizaci (CMP).
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Single Particle ICP-MS Applications in Advanced Semiconductor Processes
Agilent M Lens for ICP-MS and the Semiconductor Industry

Agilent M Lens for ICP-MS and the Semiconductor Industry

Jak funguje objektiv M a jeho použití v polovodičovém průmyslu.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Agilent M Lens for ICP-MS and the Semiconductor Industry
Characterization of Synthesized Iron Nanoparticles in Hydrocarbon Matrices by Single Particle (sp) ICP-MS

Characterization of Synthesized Iron Nanoparticles in Hydrocarbon Matrices by Single Particle (sp) ICP-MS

Metoda spICP-MS na přístroji Agilent 7900 ICP-MS použitá k charakterizaci syntetizovaných Au a Fe NP RM. Standardní referenční materiál (SRM) NIST pro surovou ropu.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Characterization of Synthesized Iron Nanoparticles in Hydrocarbon Matrices by Single Particle (sp) ICP-MS
Ultratrace Element Analysis By ICP-MS/MS Under Robust Conditions Using Ion Optic Lenses

Ultratrace Element Analysis By ICP-MS/MS Under Robust Conditions Using Ion Optic Lenses

Metody odstraňování rušivých vlivů používané k dosažení BEC na úrovni nižší než ppt pro prvky SEMI, včetně kritických kovových (vodivých) nečistot.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Ultratrace Element Analysis By ICP-MS/MS Under Robust Conditions Using Ion Optic Lenses
Removing Difficult Isobaric Overlaps using Triple Quadrupole ICP-MS (ICP-QQQ) is Simple: If you have MS/MS

Removing Difficult Isobaric Overlaps using Triple Quadrupole ICP-MS (ICP-QQQ) is Simple: If you have MS/MS

Jak trojitý kvadrupól ICP-MS 8900 s jednotkovým hmotnostním rozlišením v režimu MS/MS zajišťuje kontrolované a důsledné odstranění interferencí.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Removing Difficult Isobaric Overlaps using Triple Quadrupole ICP-MS (ICP-QQQ) is Simple: If you have MS/MS
How to Minimize Contamination and Carry Over Issues on ICP-MS

How to Minimize Contamination and Carry Over Issues on ICP-MS

Zdroje běžných laboratorních kontaminantů v ICP-MS a metody používané k jejich odstranění.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
How to Minimize Contamination and Carry Over Issues on ICP-MS
Analytical Plasma Fundamentals and the Impact on your Results

Analytical Plasma Fundamentals and the Impact on your Results

Tvorba plazmatu v analytické chemii, různé teplotní zóny plazmatu a vliv parametrů přístroje na stav plazmatu.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Analytical Plasma Fundamentals and the Impact on your Results
 

Mohlo by Vás zajímat

LabRulez na veletrhu analytica 2026

LabRulez na veletrhu analytica 2026

Po, 23.3.2026
LabRulez
Vyzkoušejte Anton Paar Lyza 7000 spektrometr zdarma

Vyzkoušejte Anton Paar Lyza 7000 spektrometr zdarma

St, 25.3.2026
Anton Paar
Webináře LabRulezICPMS týden 13/2026

Webináře LabRulezICPMS týden 13/2026

Po, 23.3.2026
LabRulez
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.