Jak kvalitní je svár nebo povrchová úprava mého nebo dodaného výrobku? Vznikl defekt chybným zacházením, nebo měl výrobek skrytou vadu materiálu? To jsou příklady otázek, které velmi rychle dokáže vyřešit tým univerzitního výzkumného ústavu CXI TUL. Pomoc při řešení konkrétních problémů ve výrobě, konzultace, analýzy a další služby špičkového vědeckého pracoviště za minimální náklady nabízí nyní firmám díky projektu SUPPORT4SME. Nabídka se týká malých a středních firem do 250 zaměstnanců z Libereckého, Ústeckého a Karlovarského kraje a také ze Saska.<h4>Podnik hradí pouze DPH</h4>„Řada menších firem má dobrý nápad nebo konkrétní technický problém, ale chybí jim přístup k potřebnému vybavení, expertům nebo laboratorním analýzám. Právě v tom jim může projekt SUPPORT4SME výrazně pomoci. Chceme, aby firmy věděly, že se na nás mohou obrátit i s velmi praktickými problémy z každodenní výroby nebo vývoje,“ říká řešitel projektu Adam Blažek z Ústavu pro nanomateriály, pokročilé technologie a inovace Technické univerzity v Liberci.&nbsp;Službu na míru si mohou firmy zadat na <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://support4sme.cxi.tul.cz/">online platformě projektu</a>. Pokud splní podmínky programu, hradí pouze DPH z reálné ceny služby. Investice do výzkumu tak pro malé a střední podniky přestává být významnou finanční překážkou.<h4>Analýza jako opora pro soudní spor</h4>Podporu projektu využila například stavební firma Tembo brand, která řešila prasklou hřídel čelního kloubového nakladače. Potřebovala zjistit, zda je příčinou chyba obsluhy, nebo vada samotného výrobku. Obrátila se proto na CXI.Detailní analýzy potvrdily výrobní vadu materiálu a staly se součástí oficiálního znaleckého posudku pro soudní řízení. Pro podobné případy má univerzita k dispozici elektronový mikroskop Helios 5 PFIB CXe, který umožňuje velmi podrobně zkoumat kvalitu materiálů, povrchové úpravy, slitiny, svary i další defekty. Mikroskop za více jak 45 milionů korun je unikátní tím, že vědci s ním mohou provádět i mikroskopické „řezy“ do zkoumaného materiálu a díky celé škále detektorů provádět komplexní fyzikální i chemickou analýzu složení vzorku.Firmě odborná analýza přinesla nejen vysvětlení příčiny problému, ale také silný podklad pro reklamaci a další právní kroky. „Buď bych tento stroj musel finančně náročně opravit, nebo bych s ním jezdil dál, což by pochopitelně představovalo bezpečnostní riziko nejen pro mě. Reklamaci teď máme prokázanou, dodavatel nám dodal zmetek a zřejmě se budeme soudit,“ popisuje Jakub Ševčík z firmy Tembo brand.<blockquote>Video: <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://www.youtube.com/watch?v=f5WXnKT2_tE&amp;t=2s">Špičkový mikroskop Helios pomáhá malým a středním firmám&nbsp;</a></blockquote><h4>Pomoc při vývoji běžkařských vosků</h4>Projekt SUPPORT4SME pomohl také firmě Titan Gliders, která na TUL našla odborné zázemí pro vývoj běžkařských vosků. Pomocí moderních analytických metod vědci zkoumají vlastní syntetizované přísady i konkurenční komerční vosky, a firma tak získává důležitá data pro další vývoj.&nbsp;„Spolupráce s CXI TUL se nám vyplatila jednoznačně. Víme přesně, kam napřít síly, bez takového zázemí bychom se jen těžko obešli. Navíc jsme díky tomu získali podporu českého biatlonu, Českého olympijského výboru i Libereckého kraje. Pro firmu, která začínala od nuly a byla financována z vlastních zdrojů, to má zásadní význam,“ říká Petr Tischer ze společnosti Titan Gliders.&nbsp;<h4>Pomoc, která firmám šetří peníze</h4>Projekt SUPPORT4SME nabízí tyto služby a množství dalších, také konzultace odbornic a odborníků, kteří disponují špičkovým laboratorním vybavením, a pomoc při řešení konkrétních technologických a materiálových problémů. Za cíl si klade podpořit v česko-saském regionu více než 130 podniků, zatím tyto služby využilo necelých třicet podniků.„Nejde jen o podporu velkých inovačních projektů. Často stačí vyřešit jeden konkrétní problém, ověřit vlastnosti materiálu nebo získat odborný pohled na technologický postup. I taková pomoc může firmě ušetřit čas, peníze a otevřít cestu k dalšímu rozvoji. Zástupci firem mnohdy ani netuší, že tu jsme a s&nbsp;čím vším jim můžeme pomoci. Přitom u nás mají k&nbsp;dispozici nejnovější přístrojové vybavení za naprosto zanedbatelné ceny. Ať firmy neváhají a obrátí se na nás s&nbsp;konkrétními dotazy, které je trápí nebo zajímají, “ uzavírá Adam Blažek.<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_5ceaee370e.jpg" alt="CXI TUL: Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_5ceaee370e.jpg 234w," sizes="100vw" width="1024" height="683"><h3>SUPPORT4SME</h3>Projekt propojuje malé a střední podniky z Libereckého, Ústeckého a Karlovarského kraje a ze Saska s aplikovaným výzkumem. Technická univerzita v Liberci jej realizuje ve spolupráci s Technickou univerzitou v Chemnitz v rámci programu Interreg Česko–Sasko 2021–2027. Firmy díky němu mohou využít odborné služby aplikovaného výzkumu, individuální konzultace a analýzy i workshopy a školení. Projekt jim otevírá přístup k mezioborové síti expertů a špičkovému výzkumnému zázemí, které mohou využít při zavádění inovací do praxe.<blockquote>Support4sme: Přeshraniční podpora zapojení malých a středních podniků do materiálového výzkumu budoucnosti.Cíl: Společné centrum přeshraniční spolupráce TU Liberec a TU Chemnitz podporuje a implementuje inovace do malých a středních podniků v regionu Česko – Sasko. SUPPORT4SME nabízí mezioborovou síť expertů, kteří vám pomohou s rozvojem vaší firmy.Finanční podpora EU (EFRR): 2.442.017,81 €Leadpartner: CXI TULPartner: Technická univerzita v&nbsp;ChemnitzMgr. Adam Blažek, MBA – řešitel <a href="mailto:adam.blazek@tul.cz">adam.blazek@tul.cz</a> +420 730 595&nbsp;011</blockquote><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_2_6cbc5d3425.jpg" alt="CXI TUL: Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_2_6cbc5d3425.jpg 234w," sizes="100vw" width="1024" height="683">

Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“

V týdnu od 11. května na Vás čekají v oblasti atomové a molekulové spektroskopie a spektrometrie následující webináře.<blockquote><h4><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://www.icpms.cz/webinars">👉 DETAILY A REGISTRACE V SEKCI WEBINÁŘE</a></h4>👉 Vyhledávejte a filtrujte v největší globální databázi s více než 5 500 GC, HPLC, MS a spektroskopickými webináři.</blockquote><h5>1. Thermo Fisher Scientific: Uncovering Microplastics: Identification, Quantification, and Exposure Assessment</h5><ul><li>Út, 12.5.2026 08:00 CEST</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/webinar/6136">Registrace</a></li></ul>Komplexní analytická řešení pro identifikaci, kvantifikaci a hodnocení expozice mikroplastům pomocí doplňkových technik.<h5>2. SPECTRO Analytical Instruments: Elemental Analysis of Superalloys: Ensuring Performance in Extreme Applications</h5><ul><li>Út, 12.5.2026 10:30 CEST</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/webinar/6170">Registrace</a></li></ul>Zjistěte, jak OES a XRF podporují přesnou elementární analýzu superslitin pro kontrolu kvality v náročných průmyslových aplikacích.<h5>3. Agilent Technologies: What have you been smoking? Elemental Analysis in Cannabis and Cannabis Products with ICP-MS</h5><ul><li>Út, 12.5.2026 20:30 CEST</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/webinar/6063">Registrace</a></li></ul>ICP-MS workflow pro elementární analýzu konopí a konopných produktů s automatizovanou kalibrací a ředěním vzorků.<h5>4. AZoM: Faster REE Exploration Decisions with XRF Technology Explained</h5><ul><li>St, 13.5.2026 16:00 CEST</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/webinar/6195">Registrace</a></li></ul>Výhody ruční XRF technologie pro rychlé rozhodování při průzkumu prvků vzácných zemin (REE).<h5>5. Bruker: Advancing Industrial Metrology Automation with Bruker's Dimension AFMs</h5><ul><li>St, 13.5.2026 17:00 CEST</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/webinar/6172">Registrace</a></li></ul>Jak platformy Dimension AFM podporují automatizaci průmyslové metrologie – od skriptovaných měření po řízení založené na datech.<h5>6. Anton Paar: Polymer Rheology: Impact of Humidity on Material Behavior</h5><ul><li>St, 13.5.2026 18:00 CET</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/webinar/5801">Registrace</a></li></ul>Praktické studie vlivu vlhkosti na reologii polymerů, lepivost, vytvrzování a tokové vlastnosti materiálů.<h5>7. LECO: TOC Determination in Soil and Waste</h5><ul><li>Čt, 14.5.2026 14:00 CEST</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/webinar/6038">Registrace</a></li></ul>Moderní přístupy ke stanovení TOC v půdách a odpadech pro environmentální a průmyslové aplikace.

Webináře LabRulezICPMS týden 20/2026

<h3>Plně v souladu s normami ASTM: Viskozita, hustota a bod tuhnutí</h3><h4>Sedm kritických testů tryskového paliva v jedné automatizované jednotce</h4>Přístroj Anton Paar SVM 3001 Cold Properties je nyní standardizován dle normy ASTM pro bod tuhnutí (D8630), což umožňuje shodné měření viskozity, hustoty a bodu tuhnutí pomocí jednoho přístroje.Viskozita se měří podle normy ASTM D7042, hustota podle normy ASTM D4052 a bod tuhnutí podle normy ASTM D8630. Systém také podporuje požadavky na viskozitu -20 °C a -40 °C podle norem ASTM D1655, D7566 a DefStan 91-091.<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Anton_Paar_SVM_3001_Cold_Properties_d1259ab21f.jpg" alt="Anton Paar: SVM 3001 Cold Properties" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Anton_Paar_SVM_3001_Cold_Properties_d1259ab21f.jpg 234w," sizes="100vw" width="2400" height="1600">Kromě těchto základních parametrů určuje SVM 3001 Cold Properties další kritické vlastnosti paliva – jako je teplota při 12 mm²/s (nebo jakákoli specifikovaná kinematická nebo dynamická viskozita) a viskozita 3 °C nad bodem tuhnutí – z jediného vzorku.Skenování teploty poskytuje skutečnou charakterizaci čerpatelnosti v celém relevantním rozsahu nízkých teplot, zatímco integrovaná Peltierova regulace teploty eliminuje potřebu kapalných lázní. Celkem lze v jednom plně automatizovaném měření získat sedm klíčových vlastností leteckého paliva. Ve srovnání s tradičními metodami SVM snižuje čas, objem vzorku a úsilí – poskytuje automatizovanou a sledovatelnou certifikaci konvenčního leteckého paliva a SAF v jednom pracovním postupu.<blockquote><h5>Kontaktujte nás a domluvite si osobní schůzku</h5>CZ: Ing. Veronika Mrňová: veronika.mrnova@anton-paar.comSK: Ing. Pavol Frič: pavol.fric@anton-paar.com</blockquote>

Jeden přístroj: Sedm kritických vlastností tryskového paliva

Webináře

Popularizace

Video

Článek

Produkt

Vše ze světa analytické chemie na jednom místě. Propojujeme lidi při řešení jejich problémů. U nás naleznete všechny potřebné informace snadno, rychle a přehledně. Přestaňte hledat a začněte nacházet.

LabRulez

Ústav pro nanomateriály, pokročilé technologie a inovace Technické univerzity v Liberci, známý také jako CXI TUL, byl založen v roce 2009. Naším posláním je podporovat dlouhodobou vizi TUL v oblasti spolupráce s průmyslem a vytváření inovací.

CXI TUL

Anton Paar vyvíjí, vyrábí a distribuuje vysoce přesné laboratorní přístroje a procesní měřicí systémy a nabízí uživatelsky specifická řešení automatizace a robotizace.

Anton Paar

Bruker

We kindly invite you to join us for this live webinar: An Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR. Infrared (IR) spectroscopy is a commonly used characterization technique for organic materials and many inorganic compounds and crystals. While powerful, it is limited by the diffraction limit to resolution on the order of several microns, and the lateral resolution is strongly dependent on the wavelength. Photothermal AFM-IR&nbsp;is a novel technique which offers IR spectroscopy and imaging on materials with a lateral resolution 1000x better than traditional FTIR and &lt;1 nm detection sensitivity with model-free interpretation. AFM-IR achieves this by using an AFM probe as the detector of photothermal expansion. This opens a variety of applications on both organic and inorganic materials where nanometer sensitivity and resolution are key.<div> In this webinar we will:</div><ul><li>Introduce the photothermal AFM-IR technique</li><li>Explore the surprisingly simple mechanism underlying the technique</li><li>Highlight a few of its many broad applications</li><li>Offer a demonstration of photothermal AFM-IR on the Dimension IconIR system</li></ul><blockquote>Presenter: Peter De Wolf, Ph.D., (Director of Technology &amp; Application Development)Peter De Wolf is director for AFM technology &amp; application development at Bruker Nano Surfaces, covering all applications related to Scanning Probe Microscopy (SPM). He obtained his PhD from IMEC, Belgium on the development of new SPM methods for 2D carrier profiling in semiconductors and has more than 25 years of experience on SPM. He is the author and co-author of over 30 publications related to electrical characterization using SPM. He also owns several SPM patents, and developed several new SPM modes for electrical characterization.Presenter: Cassandra Phillips, Ph.D. (Application Scientist, Bruker)Cassandra did her Ph.D. at the University of Toronto exploring the photophysics of boron nitride nanotubes using scattering scanning nearfield optical microscopy (s-SNOM) and computational models. She has been working at Bruker Nano Surfaces and Metrology since September 2019 as an Applications Scientist focusing on nanoscale IR spectro-microscopy and other correlated imaging techniques realized with atomic force microscopy.Presenter: Dr. Qichi Hu, (Senior Applications Scientist )Qichi is currently a Senior Staff Applications Scientist at Bruker Nano. He received a bachelor’s degree from Peking University and Ph.D. from University of British Columbia. He then did postdocs in U.S. university and national labs. Qichi has been working on nanoIR development and applications for over a decade, at Anasys and now at Bruker.</blockquote>

Bruker: Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR

Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR

An Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR.

ICPMS webináře se zaměřením na Akademie/Principy - strana 1

Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR

Mohlo by Vás zajímat

Jeden přístroj: Sedm kritických vlastností tryskového paliva

Webináře LabRulezICPMS týden 20/2026

Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“