Rentgenový fotoelektronový spektrometr NEXSA G2 - na míle před ostatními!

XPS spektrometr Nexsa G2™ od Thermo Fisher Scientific, je nová generace plně automatizovaného, multitechnického XPS spektrometru, využívající metodu vysokého energiového rozlišení prvkově a chemicky charakteristického rentgenova záření, tj. spektrometrii vysoce energetických fotonů. Koncepce multitechnického spektrometru Nexsa G2 je zcela revoluční.

S rostoucí poptávkou po vysoce výkonných materiálech, roste důležitost povrchového inženýrství. Povrch materiálu je místem interakce s vnějším prostředím a jinými materiály. Proto mnoho problémů spojených s moderními materiály lze vyřešit pouze pochopením fyzikálních a chemických interakcí, ke kterým dochází na povrchu nebo na rozhraní vrstev materiálu. Vlastnosti povrchu ovlivní takové jevy a efekty, jako je rychlost koroze, katalytická aktivita, adhezivní vlastnosti, smáčivost, kontaktní potenciál a mechanizmy poruch. Modifikací - úpravou povrchu lze cíleně projevy a vlastnosti materiálu upravit, a proto povrchová analýza hraje klíčovou roli na cestě k porozumění vztahů mezi chemickým složením povrchu materiálu a jeho projevy v oblasti materiálového inženýrství. Jedním ze standardních nástrojů pro charakterizaci povrchů se stala metoda rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS).

Metoda XPS (X-Ray Photoelectron Spectroscopy) je založena na sledování kinetické energie elektronů emitovaných z povrchu a z ultra-tenkého povrchového filmu vzorku. Tak je možné téměř nedestruktivně získat unikátní kvalitativní a kvantitativní informace o složení těchto částí vzorku. A na rozdíl od XRF (X-Ray Fluorescence) i o vazebných a chemických stavech prvků. Pro metodu XPS se rovněž používá označení ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis).

Pragolab:Nový XPS spektrometr NEXSA G2™, Thermo Scientific FEI, Brno.

Vedle již zavedeného, uživatelsky orientovaného XPS spektrometru K-Alpha, a vlajkové lodi produkce XPS spektrometrů – ESCALAB™ QXi, přináší firma Thermo Scientific™ druhou, významně inovovanou generaci nového člena rodiny XPS spektrometrů, spektrometr Nexsa G2™. XPS Nexsa G2™ nastavuje zcela revoluční standard XPS technologie. Kompaktní, standardně s duálním systémem kompenzace náboje vzorku, plně automatizovaný, s dokonalým navigačním vzorkovým systémem. Ale také mikroanalytický, multitechnický, zachovávající nejvyšší kvalitu měřených dat, s unikátními vlastnostmi pro špičkový základní i aplikovaný výzkum a studium povrchů. XPS spektrometr Nexsa G2™ umožňuje volitelně integraci s řadou komplementárních, povrchově citlivých analytických technik a nástrojů, jako ISS, UPS, REELS a zcela revoluční je možnost integrace i s Ramanovým spektrometrem. Vzorek je možné ohřívat, pomocí vakuové přenosové nádobky přenášet citlivé vzorky přímo z rukavicového boxu. K dispozici je „tilt“ modul pro úhlově rozlišenou XPS (ARXPS). Tak jako u všech XPS spektrometrů Thermo Scientific, zdrojem rentgenova záření je monochromatizovaný „Al Ka X-ray“ zdroj. Velikost spotu je volitelná uživatelsky již od 10 μm až do 400 μm.

Detektor se 128 kanály, volitelně bipolární, umožňuje pořizování tzv. „SnapMap 2D“ vizualizací povrchů v reálném čase. Standardem je rovněž možnost hloubkového profilování, k čemuž je k dispozici buď zdroj argonových iontů nebo volitelně duální zdroj MAGCIS™ (zdroj iontů nebo klastrů). Možnost získávání kvalitativních a kvantitativních informacích o vlastnostech povrchů a povrchových filmů je v řadě oblastí zcela zásadní.

Úplné pochopení vzorku často vyžaduje analýzu na různých přístrojích. Zobrazení vzorku v rastrovacím elektronovém mikroskopu (SEM) a získání složení pomocí energeticky disperzní rentgenové spektroskopie (EDS) nemusí odhalit chemii povrchu, která je zásadní pro pochopení vlastností materiálu. Tuto možnost přináší nová funkcionalita umožňující realizovat korelaci sledování povrchu metodou XPS se snímky povrchu pořízených pomocí SEM s vysokým rozlišením. Toto nabízí nová, unikátní metoda CISA od Thermo Scientific™, označovaná jako Correlative Imaging and Surface Analysis - CISA. Použitím korelačního zobrazování a analýzy povrchu (CISA) lze kombinovat datové sady z našich rentgenových fotoelektronových spektroskopií (XPS) a přístrojů SEM, a tak lépe porozumět vzorkům.

Pragolab: Znázornění příkladu postupu měření metodou CISA, kombinace dat XPS a vizualizace SEM.

Možnost rozšířené kooperace XPS spektrometru Nexsa G2, otevírá cestu k novým poznatkům, například v mikroelektronice, studiu ultratenkých filmů, nanotechnologiích a k dalším unikátním aplikacím. Všechny funkce přístroje, včetně programovatelné navigace na vzorcích, jsou plně digitálně řízené z prostředí řídícího a vyhodnocovacího programového balíku Avantage. Součástí SW Avantage je unikátní XPS Knowledge base.

Nexsa G2 má ambice pronikat i do vysoce kvalifikovaných rutinních centrálních a technologických laboratoří, např. v oblasti metalurgie a funkčních materiálů, polymerů, speciálních kovů, slitin, keramiky, skel apod. Zcela zásadní je XPS ve výzkumu v oblastech baterií a akumulátorů a jejich materiálů, grafenů, solárních článků, OLED, QOLED, Bio-povrchů, polovodičů, katalyzátorů a nanomateriálů.

Těmito rysy, kombinací unikátních hardwarových i softwarových vlastností, XPS spektrometr Nexsa vytváří nový standard XPS spektrometrické instrumentace a má nesporně ambice stát se lídrem XPS spektrometrie.

Pro další informace o XPS spektrometrech a o další vědecké instrumentaci od Thermo Scientific™, kontaktujte odborné prodejce oficiálního distributora pro Českou a Slovenskou republiku, Pragolab, s.r.o..