ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Synchronní Vertikální Dual View (SVDV) pro vysokou produktivitu a nízké provozní náklady
Článek | Věda a výzkum

Synchronní Vertikální Dual View (SVDV) pro vysokou produktivitu a nízké provozní náklady

Systém ICP-OES Agilent 5900 SVDV přináší řadu revolučních vylepšení z hlediska provozu, výkonu a produktivity. Chcete měřit vzorky efektivněji a s nejnižší možnou cenou za vzorek? Přístroj přesně pro Vás.
St, 6.3.2024
Altium International
tag
share
more
Synchronní Vertikální Dual View (SVDV) pro vysokou produktivitu a nízké provozní náklady
Altium Jarní semináře na Moravě 2024 (Program ATO + MOL 1/2)
Článek | Nejbližší akce

Altium Jarní semináře na Moravě 2024 (Program ATO + MOL 1/2)

Rádi bychom Vás opět pozvali na naše semináře, které budeme pořádat v 20.3. Ostravě a 21. 3. v Brně. Nahlédněte do obsahu části atomové a molekulové spektroskopie.
St, 21.2.2024
Altium International
tag
share
more
Altium Jarní semináře na Moravě 2024 (Program ATO + MOL 1/2)
Webinář: Prvková analýza katodových materiálů sodík-iontových baterií pomocí Agilent ICP-OES
Článek | Webináře

Webinář: Prvková analýza katodových materiálů sodík-iontových baterií pomocí Agilent ICP-OES

Pozvánka na webinář zaměřený na prvkovou analýzu katodových materiálů sodík-iontových baterií pomocí Agilent ICP-OES, který se bude konat 17. ledna 2024 ve 14 hodin.
St, 17.1.2024
Altium International
tag
share
more
Webinář: Prvková analýza katodových materiálů sodík-iontových baterií pomocí Agilent ICP-OES
Zpátky do minulosti: Reference Atomová spektrometrie ICP-OES
Článek | Produkt

Zpátky do minulosti: Reference Atomová spektrometrie ICP-OES

Pojďte se s námi podívat zpátky do minulosti na několik instalací ICP-OES systému Agilent Technologies v laboratořích v ČR. Kde a pro jaké aplikace je naši zákazníci využívají?
St, 13.12.2023
Altium International
tag
share
more
Zpátky do minulosti: Reference Atomová spektrometrie ICP-OES
Účinná korekce pozadí komplexních matric s využitím softwarové dekonvoluce ICP-OES spekter
Článek | Produkt

Účinná korekce pozadí komplexních matric s využitím softwarové dekonvoluce ICP-OES spekter

Funkce FACT je běžnou součástí ovládacího softwaru Agilent ICP Expert II pro modely 5800 a 5900 ICP-OES. Vytvoří přesný model komplexního analytického spektra.
St, 22.11.2023
Altium International
tag
share
more
Účinná korekce pozadí komplexních matric s využitím softwarové dekonvoluce ICP-OES spekter
Novinky a trendy (nejen) Agilent Technologies 2023 (Program ATO+MOL 3/3)
Článek | Nejbližší akce

Novinky a trendy (nejen) Agilent Technologies 2023 (Program ATO+MOL 3/3)

Zveme všechny příznivce chromatografie, spektroskopie a molekulární a buněčné biologie na tradiční seminář Novinky a trendy (nejen) Agilent Technologies, který se letos uskuteční 7. 11. 2023 v Praze.
St, 1.11.2023
Altium International
tag
share
more
Novinky a trendy (nejen) Agilent Technologies 2023 (Program ATO+MOL 3/3)
Novinky a trendy (nejen) Agilent Technologies 2023 (Program ATO+MOL 1/3)
Článek | Nejbližší akce

Novinky a trendy (nejen) Agilent Technologies 2023 (Program ATO+MOL 1/3)

Zveme všechny příznivce chromatografie, spektroskopie a molekulární a buněčné biologie na tradiční seminář Novinky a trendy (nejen) Agilent Technologies, který se letos uskuteční 7. 11. 2023 v Praze.
St, 18.10.2023
Altium International
tag
share
more
Novinky a trendy (nejen) Agilent Technologies 2023 (Program ATO+MOL 1/3)
Detektor netěsnosti plynů pro GC a GC/MS systémy
Článek | Produkt

Detektor netěsnosti plynů pro GC a GC/MS systémy

Přenosný detektor netěsnosti, který lze použít k monitorování netěsností jednotlivých spojů nejen v GC a GC/MS systémech, ale také např. u ICP/MS, generátorů a jinde v laboratoři.
St, 28.6.2023
Altium International
tag
share
more
Detektor netěsnosti plynů pro GC a GC/MS systémy
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.