Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace se zaměřením na AAS | LabRulez ICPMS
Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device
Brožury a specifikace
| 2022 | Shimadzu
GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC
Instrumentace
GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Agilent Solutions for Lithium-Ion Battery Industry
Brožury a specifikace
| 2020 | Agilent Technologies
GC, GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, GC/SQ, GC/Q-TOF, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
GC, GC/MSD, GC/MS/MS, GC/HRMS, GC/SQ, GC/Q-TOF, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Quantitative Analysis of Lead in Bismuth Bronze - Matrix Elements/Profile Correction and Comparison with AA
Aplikace
| 2017 | Shimadzu
AAS, X-ray
Instrumentace
AAS, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Instruments for Evaluations Rubber and Plastics
Brožury a specifikace
| 2016 | Shimadzu
GC/MSD, HeadSpace, Pyrolýza, GC/SQ, HPLC, GPC/SEC, UV–VIS Spektrofotometrie, AAS, MP/ICP-AES, Mikroskopie, X-ray
Instrumentace
GC/MSD, HeadSpace, Pyrolýza, GC/SQ, HPLC, GPC/SEC, UV–VIS Spektrofotometrie, AAS, MP/ICP-AES, Mikroskopie, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Features and Operation of Hollow Cathode Lamps and Deuterium Lamps
Technické články
| 2010 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Measurement of Lead in Lead-Free Solder by ICP-AES, FAAS and EDX
Aplikace
| 2012 | Shimadzu
AAS, MP/ICP-AES, X-ray
Instrumentace
AAS, MP/ICP-AES, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Agilent Atomic Spectroscopy Solutions for the Semiconductor Industry
Příručky
| 2020 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
Instrumentace
ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Hollow Cathode Lamps – Yesterday, Today and Tomorrow
Technické články
| 2010 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Shimadzu Analytical and Measuring Instrument
Brožury a specifikace
| 2023 | Shimadzu
GC, GCxGC, GC/MSD, GC/MS/MS, HeadSpace, SPME, Termální desorpce, Příprava vzorků, Pyrolýza, GC/SQ, GC/QQQ, Spotřební materiál, Software, MALDI, MS Imaging, HPLC, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC kolony, LC/QQQ, DART, LC/SQ, PrepLC, RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie, MP/ICP-AES, X-ray, XRD, TOC
Instrumentace
GC, GCxGC, GC/MSD, GC/MS/MS, HeadSpace, SPME, Termální desorpce, Příprava vzorků, Pyrolýza, GC/SQ, GC/QQQ, Spotřební materiál, Software, MALDI, MS Imaging, HPLC, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC kolony, LC/QQQ, DART, LC/SQ, PrepLC, RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie, MP/ICP-AES, X-ray, XRD, TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Mohlo by Vás zajímat
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.