ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace od Agilent Technologies | LabRulez ICPMS

    Assay of Alkali Metals in Pegmatite and Spodumene Ores by ICP-OES

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí

    WCPS: Determination of ultra-trace level impurities in high-purity metal samples by ICP-QQQ

    Postery
    | 2017 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Analysis of Ultratrace Impurities in High Purity Copper using the Agilent 8900 ICP-QQQ

    Aplikace
    | 2018 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Průmysl a chemie, Polovodiče

    Use of Drierite Trap to Extend the Lifetimeof Vapor Generation Absorption Cell

    Technické články
    | 2010 | Agilent Technologies
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Dedicated axial or radial plasma view for superior speed and performance

    Technické články
    | 2012 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Agilent ICP-MS | Easy-fit Peristaltic Pump Tubing Chemical Resistance Chart

    Příručky
    | 2022 | Agilent Technologies
    Spotřební materiál, ICP/MS
    Instrumentace
    Spotřební materiál, ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    14 Causes of Metals Analysis Failure

    Příručky
    | 2020 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Are you measuring ICP-OES samples more than once?

    Příručky
    | 2019 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Trace Metal Analysis of Waters using the Carbon Rod Atomizer — a Review

    Aplikace
    | 2010 | Agilent Technologies
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí

    Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for superior speed and performance

    Technické články
    | 2016 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Laureátkou ceny Via Chimica pro rok 2024 je Karolína Slonková

    Ne, 2.6.2024
    Nadace Experientia

    „První komunikátoři vědy pro mě byli už učitelé na střední,“ říká výzkumnice a laureátka ceny Učené společnosti Barbora Rudzanová

    Ne, 2.6.2024
    RECETOX - Centrum pro výzkum toxických látek v prostředí

    Podcast CHEmic #29 – Divadlo i věda nám pomáhají porozumět světu, říká dramatik a matematik René Levínský

    Čt, 30.5.2024
    Ústav organické chemie a biochemie AV ČR
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.