Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(35)
Forenzní analýza a toxikologie
(10)
Klinická analýza
(25)
Materiálová analýza
(57)
Instrumentace
AAS
(11)
FTIR Spektroskopie
(17)
Fluorescenční spektroskopie
(3)
ICP/MS
(28)
Výrobce
Agilent Technologies
(139)
Elemental Scientific
(2)
GERSTEL
(1)
Mestrelab Research
(1)
Autor
Agilent Technologies
(118)
Chemické listy
(18)
Metrohm
(24)
PerkinElmer
(3)
Typ Publikace
Aplikace
(135)
Brožury a specifikace
(57)
Manuály
(13)
Ostatní
(50)
Rok vydání
Film Holder Accessory
Brožury a specifikace
| 2021 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Optical Characterization of Thin Films
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Gaining Deeper Insights into Thin Film Response
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
NETRADIČNÍ FILMOVÉ ELEKTRODY VE VOLTAMETRICKÉ A AMPÉROMETRICKÉ ANALÝZE ORGANICKÝCH SLOUČENIN
Vědecké články
| 2023 | Chemické listy (Univerzita Karlova)
Voltametrie/Coulometrie
Instrumentace
Voltametrie/Coulometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures
Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700
Aplikace
| N/A | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Surface Analysis of PET Film Using a Benchtop MALDI-TOF Mass Spectrometer
Aplikace
| 2017 | Shimadzu
MALDI, LC/TOF, LC/MS
Instrumentace
MALDI, LC/TOF, LC/MS
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Optical Properties of Films and Glasses Used to Protect Smartphones
Aplikace
| 2017 | Shimadzu
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Color Evaluation of Structurally Colored Films by Angle of Incidence
Aplikace
| 2016 | Shimadzu
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie
Před
1
2
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
S udržitelností u veřejných zakázek záleží na financování
Ne, 28.4.2024
Forum: magazín Univerzity Karlovy
Tuk je možné vydolovat i z tisíce let staré keramiky, říká Veronika Brychová
Čt, 25.4.2024
Akademie věd České republiky
Vědeckotechnické parky: Ostrava a Plzeň. A co Praha?
Čt, 25.4.2024
Vědavýzkum.cz
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.