Simplifying Correction of Doubly Charged Ion Interferences with Agilent ICP-MS MassHunter
Technické články | 2019 | Agilent TechnologiesInstrumentace
Dvojitě nabité ionty vznikající z baryu a vzácných zemin mohou zkreslovat výsledky měření důležitých stopových prvků jako zinek, arsen a selen pomocí ICP-MS. Přesná korekce těchto interferencí je klíčová pro dosažení spolehlivých a věrohodných dat v oblasti environmentální analýzy, farmaceutického průmyslu či kontrol kvality.
Cílem bylo implementovat a otestovat automatizovanou rutinu pro korekci M2+ interferencí v softwaru Agilent ICP-MS MassHunter. Studie demonstrovala nastavení metody, aplikaci přesných korekčních rovnic a vyhodnocení účinku korekce na výsledky Zn, As a Se v přítomnosti různých koncentrací možných interferentů.
Díky plné automatizaci korekce M2+ interferencí ve softwaru MassHunter se výrazně zkracuje doba přípravy metod, potlačují se chyby při ručním výpočtu a zvyšuje se průchodnost vzorků. Metodu lze využít v rutinní analýze environmentálních a průmyslových vzorků, kde se vyskytují vysoké koncentrace baryových či REE prvků.
Automatizovaná korekce dvojitě nabitých iontů v softwaru Agilent ICP-MS MassHunter výrazně zlepšuje přesnost stanovení Zn, As a Se v přítomnosti interferentů z baryu a vzácných zemin. Funkce úzkého režimu špiček a integrované korekční rovnice poskytují rychlou a spolehlivou analýzu bez nutnosti složitého ručního nastavování.
Software, ICP/MS
ZaměřeníVýrobceAgilent Technologies
Souhrn
Význam tématu
Dvojitě nabité ionty vznikající z baryu a vzácných zemin mohou zkreslovat výsledky měření důležitých stopových prvků jako zinek, arsen a selen pomocí ICP-MS. Přesná korekce těchto interferencí je klíčová pro dosažení spolehlivých a věrohodných dat v oblasti environmentální analýzy, farmaceutického průmyslu či kontrol kvality.
Cíle a přehled studie
Cílem bylo implementovat a otestovat automatizovanou rutinu pro korekci M2+ interferencí v softwaru Agilent ICP-MS MassHunter. Studie demonstrovala nastavení metody, aplikaci přesných korekčních rovnic a vyhodnocení účinku korekce na výsledky Zn, As a Se v přítomnosti různých koncentrací možných interferentů.
Použitá metodika a instrumentace
- ICP-MS přístroje: Agilent 7800 a 7900 ICP-MS se softwarovým modulem MassHunter v. 4.5 a Advanced Acquisition.
- Buněčná technologie: helium kolizní režim pro obecné polyatomické interference a úzký režim špiček (+0,5 u) pro měření M2+ iontů.
- Vzorková příprava: standardy Zn, As, Se, Ba, Nd, Sm, Gd a Dy v rozmezí 0–5000 ppb, interní standardní mix pro kompenzaci driftu.
- Korekční rovnice: výpočet příspěvku 132Ba2+, 145Nd2+/147Sm2+ a 155Gd2+/163Dy2+ na hmotnostech 66, 75 a 78 pomocí poměru izotopového zastoupení.
Hlavní výsledky a diskuse
- Zn: bez korekce zachována přesnost do 500 ppb Ba, při 5000 ppb Ba dochází k přibližně 30% nárůstu, po korekci je obnova 96 %.
- As: při přítomnosti 50 ppb Nd a Sm bez korekce 148 % obnovy, po aplikaci korekce 106 %.
- Se: při 5 ppb Gd a Dy bez korekce 215 % obnovy, po korekci dosaženo 107 %.
- Úzký režim špiček umožňuje jasné rozlišení signálů na celých a půlových hmotnostech bez překryvů.
Přínosy a praktické využití metody
Díky plné automatizaci korekce M2+ interferencí ve softwaru MassHunter se výrazně zkracuje doba přípravy metod, potlačují se chyby při ručním výpočtu a zvyšuje se průchodnost vzorků. Metodu lze využít v rutinní analýze environmentálních a průmyslových vzorků, kde se vyskytují vysoké koncentrace baryových či REE prvků.
Budoucí trendy a možnosti využití
- Rozšíření softwarových rutin na další dvojitě nabité interferenty a izotopické systémy.
- Integrace reaktivních plynů s pokročilou kontrolou pro komplexnější potlačení rušivých signálů.
- Implementace v on-line sledování procesů a automatizovaných výrobních linkách pro zajištění kvality v reálném čase.
- Další vývoj hyperbolických kvadrupol pro zvýšení rozlišení bez výrazného úbytku citlivosti.
Závěr
Automatizovaná korekce dvojitě nabitých iontů v softwaru Agilent ICP-MS MassHunter výrazně zlepšuje přesnost stanovení Zn, As a Se v přítomnosti interferentů z baryu a vzácných zemin. Funkce úzkého režimu špiček a integrované korekční rovnice poskytují rychlou a spolehlivou analýzu bez nutnosti složitého ručního nastavování.
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
Agilent ICP-MS Journal (January 2020, Issue 79)
2020|Agilent Technologies|Ostatní
Agilent ICP-MS Journal January 2020, Issue 79 Page 1 New Methods, Software Tools, and Consumables for ICP-MS and ICP-QQQ Pages 2-3 Determination of Chloride in Crude Oils Diluted in o-Xylene using an Agilent 8900 ICP-QQQ Pages 4-5 Correcting Doubly-Charged Ion…
Klíčová slova
icp, icpagilent, agilentcrude, crudecones, conesqqq, qqqdoubly, doublyhalf, halfcharged, chargedoil, oilmass, massnickel, nickelcone, coneplated, platedsampling, samplingcannabis
Resolving REE2+ Overlaps on Arsenic and Selenium With Hydrogen Cell Gas
2021|Agilent Technologies|Technické články
Technical Overview Resolving REE2+ Overlaps on Arsenic and Selenium With Hydrogen Cell Gas Accurate analysis of As and Se in a REE matrix using Agilent single quadrupole ICP-MS Introduction ICP-MS is the technique of choice for rapid multi-element analysis of…
Klíčová slova
icp, icpked, kedcell, cellcorrection, correctionppb, ppbdoubly, doublyree, reepolyatomic, polyatomicbias, biascollision, collisioninterferences, interferencesgas, gashalf, halfelements, elementsoverlaps
Fast, Accurate Analysis of 28 Elements in Water using ISO Method 17294-2 for ICP-MS
2022|Agilent Technologies|Aplikace
Application Note Environmental Fast, Accurate Analysis of 28 Elements in Water using ISO Method 17294-2 for ICP-MS Agilent 7850 ICP-MS controls polyatomic and doubly charged interferences to deliver long-term accuracy and reproducibility in diverse water samples Authors Introduction Tetsuo Kubota…
Klíčová slova
ppb, ppbmean, meanrecovery, recoverywizard, wizardicp, icpconcentration, concentrationmode, modegas, gasinterferences, interferencescertified, certifiedwere, werecheck, checkplasma, plasmaspike, spikecrms
Solving Doubly Charged Ion Interferences using an Agilent 8900 ICP-QQQ
2019|Agilent Technologies|Technické články
Application Note Environmental Solving Doubly Charged Ion Interferences using an Agilent 8900 ICP-QQQ Improved data quality using MS/MS oxygen mass-shift method to resolve common M++ ion interferences Author Introduction Naoki Sugiyama, Agilent Technologies Inc. Most ICP-MS instruments use collision/reaction cell…
Klíčová slova
doubly, doublyinterferences, interferencessrm, srmcharged, chargedicp, icpelements, elementsked, kedqqq, qqqion, iongas, gasaverage, averagecell, cellelement, elementrecovery, recoverycertified