How to Prevent Common ICP-OES Instrument Problems
Příručky | 2019 | Agilent TechnologiesInstrumentace
ICP-OES je široce využívaná technika pro stanovení prvků v různých typech vzorků od vody přes půdy až po potraviny. Spolehlivý provoz přístroje minimalizuje ztrátu času a náklady spojené s opakovanými měřeními a snižuje četnost zbytečných servisních zásahů.
Tento odborný text popisuje nejčastější problémy způsobující výpadky nebo odchylky v měření na ICP-OES a uvádí konkrétní postupy a moderní funkce přístrojů Agilent 5800 a 5900, které pomáhají tyto potíže předcházet. Cílem je seznámit analytiky s preventivními opatřeními, diagnostikou a údržbou, aby první měření byla vždy správná.
Analytická zařízení: Agilent 5800 ICP-OES a Agilent 5900 ICP-OES. Klíčové funkce: Neb Alert (sledování tlaku v nebulizéru), Early Maintenance Feedback (EMF), IntelliQuant Screening, Intelligent Rinse, vestavěné senzory a automatizované výkonnostní testy.
Implementace popsaných preventivních postupů a chytrých funkcí vede ke spolehlivějším výsledkům, minimalizaci zbytečných servisních zásahů, úspoře času a nákladů a zvýšení průchodnosti laboratoře.
Rozvoj prediktivní údržby s využitím strojového učení, cloudové monitorování provozních dat, integrace pokročilých senzorů pro detailní diagnostiku a vzdálenou asistenci operátorům může dále omezit prostoje a optimalizovat pracovní postupy.
Klíčem k efektivnímu využití ICP-OES je kombinace kvalitního hardwaru, automatizovaných diagnostických funkcí a systematické údržby na základě reálných provozních dat. Díky nim lze zajistit, že výsledky budou spolehlivé již při prvním měření a minimalizovat potřebu opakování analýz.
ICP-OES
ZaměřeníVýrobceAgilent Technologies
Souhrn
Význam tématu
ICP-OES je široce využívaná technika pro stanovení prvků v různých typech vzorků od vody přes půdy až po potraviny. Spolehlivý provoz přístroje minimalizuje ztrátu času a náklady spojené s opakovanými měřeními a snižuje četnost zbytečných servisních zásahů.
Cíle a přehled studie / článku
Tento odborný text popisuje nejčastější problémy způsobující výpadky nebo odchylky v měření na ICP-OES a uvádí konkrétní postupy a moderní funkce přístrojů Agilent 5800 a 5900, které pomáhají tyto potíže předcházet. Cílem je seznámit analytiky s preventivními opatřeními, diagnostikou a údržbou, aby první měření byla vždy správná.
Použitá instrumentace
Analytická zařízení: Agilent 5800 ICP-OES a Agilent 5900 ICP-OES. Klíčové funkce: Neb Alert (sledování tlaku v nebulizéru), Early Maintenance Feedback (EMF), IntelliQuant Screening, Intelligent Rinse, vestavěné senzory a automatizované výkonnostní testy.
Hlavní výsledky a diskuse
- Nebulizér: Ucpání jemnými částicemi vede k poklesu signálu. Doporučená opatření – filtrace či centrifugace vzorků, volba většího ID kapiláry, argonový zvlhčovač, přepínací ventil, kontrola tlaku pomocí Neb Alert.
- Plazmová tryska (torch): Krystalické usazeniny v injektoru způsobují drift nebo snížení citlivosti. Prevence – monitorování výdrže citlivosti pomocí QC, jednoduchá konstrukce torch u Agilentu minimalizuje chyby montáže, senzory pro detekci potíží při zapalování plazmy.
- Údržba a servis: Koncepce EMF umožňuje plánovat čištění a kontroly na základě počtu vzorků. Vestavěné čidla upozorňují na zanesené filtry, špatné upnutí hadiček nebo nízké průtoky chlazení a plynu.
- Nastavení metody: Správné parametry (tok nebulizéru, pumpy, zpoždění měření, doba proplachu) lze optimalizovat pomocí IntelliQuant Screening a Intelligent Rinse, které automatizují výběr optimálních hodnot a zkracují proplachování.
- Peristaltické pumpy: Opotřebené nebo špatně připevněné hadičky zhoršují přesnost a vyvolávají drift. Pravidelná kontrola elasticity a utažení, výměna na základě EMF a využití Outlier Conditional Formatting pro detekci zvýšené variability.
- Sprejová komora: Usazeniny olejů a matric vedou k nerovnoměrnému rozprašování. Doporučeno pravidelné čištění, dedikované komponenty pro organické vzorky a EMF alert pro údržbu.
Přínosy a praktické využití metody
Implementace popsaných preventivních postupů a chytrých funkcí vede ke spolehlivějším výsledkům, minimalizaci zbytečných servisních zásahů, úspoře času a nákladů a zvýšení průchodnosti laboratoře.
Budoucí trendy a možnosti využití
Rozvoj prediktivní údržby s využitím strojového učení, cloudové monitorování provozních dat, integrace pokročilých senzorů pro detailní diagnostiku a vzdálenou asistenci operátorům může dále omezit prostoje a optimalizovat pracovní postupy.
Závěr
Klíčem k efektivnímu využití ICP-OES je kombinace kvalitního hardwaru, automatizovaných diagnostických funkcí a systematické údržby na základě reálných provozních dat. Díky nim lze zajistit, že výsledky budou spolehlivé již při prvním měření a minimalizovat potřebu opakování analýz.
Reference
- Agilent publication 5994-1278EN: How to Reduce ICP-OES Remeasurement Caused by Sample Problems and Errors
- Agilent publication 5991-8688EN: Calibration Troubleshooting Checklist
- Agilent publication 5991-8687EN: How to Optimize your ICP-OES Methods
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
How to Reduce ICP-OES Remeasurement Caused by Sample Problems and Errors
2019|Agilent Technologies|Příručky
How to Reduce ICP-OES Remeasurement Caused by Sample Problems and Errors Tips and advice to prevent time-wasting remeasurement of samples, from an ICP-OES expert Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectroscopy (ICP-OES) is a well-established technique for the measurement of elements…
Klíčová slova
oes, oesicp, icpintelliquant, intelliquantsample, samplecan, canemission, emissionyou, youelements, elementsmistakes, mistakesremeasure, remeasureproblems, problemswhat, whatyour, yourhave, havesamples
Are you measuring ICP-OES samples more than once?
2019|Agilent Technologies|Příručky
Are you measuring ICP-OES samples more than once? How to stop time-wasting remeasurements The Story of Luke Luke (not his real name), was an analyst at Always Right Labs. His job included analyzing samples on an ICP-OES, as well as…
Klíčová slova
causes, causesproblem, problemremeasure, remeasuresamples, sampleswhat, whatyou, youincorrect, incorrectelement, elementoes, oesproblems, problemssample, sampleremeasuring, remeasuringpoor, poorcan, canyour
14 Causes of Metals Analysis Failure
2020|Agilent Technologies|Příručky
14 Causes of Metals Analysis Failure Learn how to avoid these common problems The Story of Luke Luke (not his real name), was an analyst at Always Right Labs. His job included analyzing samples on an ICP-OES, as well as…
Klíčová slova
causes, causesproblem, problemremeasure, remeasuresamples, sampleswhat, whatproblems, problemselement, elementincorrect, incorrectyou, youremeasuring, remeasuringsample, sampleoes, oescan, canpoor, poorcalibration
Agilent 5900 ICP-OES
2025|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
Agilent 5900 ICP-OES The smart way to high productivity and low cost of ownership Supercharge Your Lab’s Business The smart Agilent 5900 is designed to get the right answer faster than any other instrument, with the lowest cost per sample.…
Klíčová slova
intelliquant, intelliquantdowntime, downtimeyour, yoursmart, smartargon, argoncosts, coststracking, trackingrevenue, revenuesample, sampleicp, icpoes, oeshealth, healthhydride, hydrideisomist, isomistcall