Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control
Technické články | 2024 | Agilent TechnologiesInstrumentace
Spektrální kvalita je klíčová pro spolehlivou charakterizaci optických filtrů a děličů paprsku. Kontrola kolimace vstupního svazku zajišťuje ostré přechody v měřených spektrálních datech a usnadňuje přesné stanovení hranové strmosti.
Hlavním cílem bylo prozkoumat vliv úrovně kolimace incidentního paprsku na kvalitu spektra při měření hranové strmosti optického beam splitteru. K tomu byl využit spektrofotometr Agilent Cary 7000 s příslušenstvím UMA.
Při postupném zmenšování horizontální apertury z 3° na 0.25° se významně zlepšila hranová strmost v oblasti 780–800 nm. Nejostřejší přechod a nejvyšší přesnost byly dosaženy při použití apertury 0.25° (f/35). Výsledky potvrzují, že jemné nastavení kolimace je klíčové pro odlišení vysokokvalitních optických filtrů.
Precizní řízení kolimace vstupního paprsku pomocí UMA na spektrofotometru Agilent Cary 7000 vede k významnému zlepšení kvality spektrálních dat, zejména při hodnocení hranové strmosti optických filtrů. Optimální výsledky byly dosaženy se 0.25° horizontální aperturou, což potvrzuje význam kontroly kolimace v odborné praxi.
UV–VIS Spektrofotometrie, NIR Spektroskopie
ZaměřeníMateriálová analýza
VýrobceAgilent Technologies
Souhrn
Význam tématu
Spektrální kvalita je klíčová pro spolehlivou charakterizaci optických filtrů a děličů paprsku. Kontrola kolimace vstupního svazku zajišťuje ostré přechody v měřených spektrálních datech a usnadňuje přesné stanovení hranové strmosti.
Cíle a přehled studie
Hlavním cílem bylo prozkoumat vliv úrovně kolimace incidentního paprsku na kvalitu spektra při měření hranové strmosti optického beam splitteru. K tomu byl využit spektrofotometr Agilent Cary 7000 s příslušenstvím UMA.
Použitá metodika a instrumentace
- Měření v přenosovém režimu s konstantní šířkou spektrálního pásma 0.5 nm.
- Příslušenství UMA umožňuje volbu horizontálních a vertikálních apertur s půlkonickými úhly 0.25°, 0.5°, 0.75°, 1°, 2° a 3°.
- Horizontální apertury upravují kolimaci paprsku a vertikální apertury ovlivňují velikost světelného pole na vzorku.
- Instrumentace:
- Agilent Cary 7000 Universal Measurement Spectrophotometer (UMS)
- Agilent Cary Universal Measurement Accessory (UMA)
- Agilent WinUV software pro řízení měření
Hlavní výsledky a diskuse
Při postupném zmenšování horizontální apertury z 3° na 0.25° se významně zlepšila hranová strmost v oblasti 780–800 nm. Nejostřejší přechod a nejvyšší přesnost byly dosaženy při použití apertury 0.25° (f/35). Výsledky potvrzují, že jemné nastavení kolimace je klíčové pro odlišení vysokokvalitních optických filtrů.
Přínosy a praktické využití metody
- Zvýšení přesnosti a reprodukovatelnosti stanovení hranové strmosti u optických filtrů.
- Rychlejší QA/QC testování díky optimalizovanému sběru dat.
- Snížení finančního rizika díky spolehlivému ověření kvality produktů před expedicí.
- Možnost automatizovaných a nepřetržitých analýz citlivých vzorků.
Budoucí trendy a možnosti využití
- Integrace vysokých f-čísel do rutinních spektroskopických metod pro širokou škálu materiálů.
- Rozšíření automatizovaných měření na inline kontrolu ve výrobních procesech.
- Vývoj nových apertur pro ještě jemnější regulaci kolimace ve specifických aplikacích.
- Využití v pokročilém výzkumu nanostruktur a tenkých vrstev.
Závěr
Precizní řízení kolimace vstupního paprsku pomocí UMA na spektrofotometru Agilent Cary 7000 vede k významnému zlepšení kvality spektrálních dat, zejména při hodnocení hranové strmosti optických filtrů. Optimální výsledky byly dosaženy se 0.25° horizontální aperturou, což potvrzuje význam kontroly kolimace v odborné praxi.
Reference
- V textu nebyl uveden žádný seznam literatury.
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
Agilent Cary Universal Measurement Accessory (UMA)
2013|Agilent Technologies|Technické články
Agilent Cary Universal Measurement Accessory (UMA) for the Agilent Cary 4000/5000/6000i/7000 UV-Vis and UV-Vis-NIR spectrophotometers Technical Overview Introduction The Cary Universal Measurement Accessory (UMA) provides the ability to automatically measure absolute specular reflectance, transmission and scattering at a wide range…
Klíčová slova
apertures, aperturesuma, umaoptical, opticalcollimation, collimationcary, carysample, sampleangle, angledetector, detectorscattering, scatteringcontrol, controlencoder, encoderwavelength, wavelengthmounts, mountsaccessory, accessoryposition
Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
2023|Agilent Technologies|Příručky
Applications of UV-Vis-NIR Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy Application Compendium > Return to table of contents Table of contents Introduction 4 Optics 5 Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Evaluation of the Cary Specular Reflectance Accessory for…
Klíčová slova
optical, opticalreturn, returnreflectance, reflectancecontents, contentstable, tableangle, angleincidence, incidencemeasurements, measurementswavelength, wavelengthtransmittance, transmittancereflection, reflectionspectrophotometer, spectrophotometermeasurement, measurementcoating, coatingbeam
Measurement of Bidirectional Transmittance Distribution Function
2025|Agilent Technologies|Aplikace
Application Note Materials Measurement of Bidirectional Transmittance Distribution Function Using the Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer Authors Abstract Robin Aschan Metrology Research Institute, Aalto University, Espoo, Finland The Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer (UMS) is an effective tool…
Klíčová slova
btdf, btdfbidirectional, bidirectionalaperture, aperturelight, lighttransmittance, transmittanceuncertainty, uncertaintybrdf, brdfdistribution, distributioncary, carymeasurement, measurementfunction, functionmeasurements, measurementsturntables, turntablesums, umsingaas
Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers
2020|Agilent Technologies|Aplikace
Application Note Materials testing and research Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers Efficient handling of large samples and multiple UV-Vis-NIR reflectance measurements using fully automated sample handling Author Travis Burt Fabian Zieschang Agilent Technologies, Inc. Parts of this work…
Klíčová slova
wafer, waferoptical, opticalreflection, reflectionpolarization, polarizationincidence, incidencecoating, coatingautosampler, autosamplerincident, incidentangle, angleuma, umabeam, beampatch, patchmapping, mappingangles, anglesuniformity