ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Agilent Cary Universal Measurement Accessory (UMA)

Technické články | 2013 | Agilent TechnologiesInstrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Zaměření
Výrobce
Agilent Technologies

Souhrn

Význam tématu


Analýza spektra odrazu, prostupu a rozptylu v UV-Vis a NIR oblasti je klíčová pro vývoj a kontrolu kvality tenkých vrstev, optických prvků, skel a solárních komponent. Přesné a automatizované měření těchto parametrů šetří čas i náklady a zvyšuje spolehlivost výrobních procesů i výzkumných studií.

Cíle a přehled příslušeného doplňku


Cary Universal Measurement Accessory (UMA) pro spektrofotometry Agilent Cary 4000/5000/6000i/7000 umožňuje nepřetržité a plně automatické stanovení:
  • absolutní spekulární reflexe, přenosu a rozptylu při proměnných úhlech,
  • měření v různých polarizačních stavech,
  • simultánní analýzu bez nutnosti opakovaného nastavení vzorku.

Použitá metodika


UMA pracuje na principu nezávislého pohybu detektoru a vzorku s vysokým rozlišením (0,02°). Klíčové prvky metody:
  • optické kódování s automatickou kalibrací pozice – zaručená přesnost i po náhodném poškození,
  • výměnné drátové polarizátory pro široký rozsah vlnových délek,
  • nastavitelné apertury pro přesné řízení svazku (horizontální 1°–3°, detektor 1°–6°),
  • možnost měření absorptance A=1–R–T bez přesouvání vzorku.

Použitá instrumentace


UMA je určen pro spektrofotometry Agilent Cary řady 4000 až 7000 v UV-Vis a UV-Vis-NIR verzi.
Hlavní technické parametry:
  • rozsah vlnových délek 190–2800 nm,
  • úhlový rozsah reflexe 5–85° (vzorku) a detektoru až 350°,
  • průměr vzorku 5 mm až 275 mm, tloušťka až 30 mm,
  • automatické rotace vzorku 360° a detektoru.

Hlavní výsledky a diskuse


Díky UMA lze získat vysoce přesná data pro různá úhlová nastavení bez manuální manipulace s vzorkem. Automatizace a jednotné měření referenční linie pro všechny režimy (R i T) zkracuje dobu analýz až o desítky procent. Přímé vidění detektorem Si/InGaAs eliminuje nutnost integračních koulí a zachovává maximální intenzitu signálu.

Přínosy a praktické využití metody


UMA nachází uplatnění v následujících oblastech:
  • výzkum a vývoj optických konstant (n, k) a tloušťky tenkých filmů,
  • QA/QC v průmyslové výrobě antireflexních a ochraných vrstev,
  • hodnocení optických vlastností skla dle norem EN410, ISO9050,
  • optimalizace fotovoltaických modulů a parabolických reflektorů.

Budoucí trendy a možnosti využití


Vývoj se zaměří na rychlejší datové rozhraní a integraci umělé inteligence pro analýzu výsledků v reálném čase. Potenciál skýtá kombinace UMA s hyperspektrálními detektory a pokročilými modulacemi polarizace pro detailnější studium nanostruktur a biooptických vzorků.

Závěr


Cary UMA představuje univerzální a výkonné řešení pro kvantitativní a opakovatelné měření reflexe, přenosu i rozptylu světla v široké škále aplikací. Jeho přesnost, flexibilita a plná automatizace podporují efektivní výzkum i komerční kontrolu kvality.

Reference


Agilent Technologies, Cary Universal Measurement Accessory (UMA) Technical Overview, publikace 5991-2529EN, květen 2013.

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Toggle
Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control
Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control
2024|Agilent Technologies|Technické články
Technical Overview Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control Benefits of the Agilent Cary 7000 Universal Measurement Spectrophotometer with high f-number apertures for superior data quality and accuracy Authors Wesam Alwan and Travis Burt Agilent Technologies, Inc. Introduction In spectroscopy,…
Klíčová slova
uma, umacollimation, collimationapertures, aperturesbeam, beamaoi, aoicary, carysteepness, steepnessvertical, verticaldegree, degreeplane, planeaperture, aperturevis, visquality, qualitymeasurement, measurementhorizontal
Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
Applications of UV-Vis-NIR Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy Application Compendium > Return to table of contents Table of contents Introduction  4 Optics  5 Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters  Evaluation of the Cary Specular Reflectance Accessory for…
Klíčová slova
optical, opticalreturn, returnreflectance, reflectancecontents, contentstable, tableangle, angleincidence, incidencemeasurements, measurementswavelength, wavelengthtransmittance, transmittancereflection, reflectionspectrophotometer, spectrophotometermeasurement, measurementcoating, coatingbeam
Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer
Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer
2022|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
Advance Your Materials Agilent Cary 7000 universal measurement spectrophotometer A More Powerful Approach to Measuring Solid Samples Do you measure the optical properties of coatings, thin films, optical components, solar cells, or glass? Do you measure reflectance AND transmission? Do…
Klíčová slova
optical, opticalreflectance, reflectancetransmission, transmissioncary, carynir, nirsolar, solarabsolute, absolutewavelength, wavelengthvis, viswinuv, winuvyour, yourmeasurements, measurementsmaterials, materialsmoving, movingscattering
Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers
Application Note Materials testing and research Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers Efficient handling of large samples and multiple UV-Vis-NIR reflectance measurements using fully automated sample handling Author Travis Burt Fabian Zieschang Agilent Technologies, Inc. Parts of this work…
Klíčová slova
wafer, waferreflection, reflectionoptical, opticalpolarization, polarizationincidence, incidencecoating, coatingautosampler, autosamplerincident, incidentangle, angleuma, umabeam, beampatch, patchangles, anglesmapping, mappinguniformity
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.