ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Resonance Enhanced Force Volume AFM-IR: A Powerful New Technique for Nanoscale IR Characterization

Resonance Enhanced Force Volume AFM-IR: A Powerful New Technique for Nanoscale IR Characterization

Připojte se k tomuto webináři, kde vám představíme novou výkonnou techniku pro charakterizaci infračerveného záření v nanorozměrech: Představíme vám rezonancí zesílený objem AFM-IR.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 23.5.2024
Bruker
tag
share
more
Resonance Enhanced Force Volume AFM-IR: A Powerful New Technique for Nanoscale IR Characterization
Cutting Edge Imaging: Harnessing Diamond Probes for Advanced AFM Performance

Cutting Edge Imaging: Harnessing Diamond Probes for Advanced AFM Performance

Objevte, jak diamantové sondy AFM zvyšují přesnost, odolnost a elektrické zobrazování, čímž zvyšují výkon a životnost v pokročilých aplikacích v nanoměřítku a polovodičích.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 19.3.2026
Bruker
tag
share
more
Cutting Edge Imaging: Harnessing Diamond Probes for Advanced AFM Performance
Inside the Chip: Semiconductor Failure Analysis with AFM-in-SEM

Inside the Chip: Semiconductor Failure Analysis with AFM-in-SEM

Zjistěte, jak LiteScope AFM-in-SEM umožňuje in-situ elektrickou a topografickou analýzu polovodičových komponent s vysokým rozlišením na nanoskopické úrovni.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 28.5.2025
NenoVision
tag
share
more
Inside the Chip: Semiconductor Failure Analysis with AFM-in-SEM
Inside the Chip: Semiconductor Failure Analysis with AFM-in-SEM

Inside the Chip: Semiconductor Failure Analysis with AFM-in-SEM

Zjistěte, jak LiteScope AFM-in-SEM umožňuje in-situ elektrickou a topografickou analýzu polovodičových komponent s vysokým rozlišením na nanoskopické úrovni.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Út, 13.5.2025
NenoVision
tag
share
more
Inside the Chip: Semiconductor Failure Analysis with AFM-in-SEM
Photothermal AFM-IR: Enhanced Analysis Capabilities for Life Science Research

Photothermal AFM-IR: Enhanced Analysis Capabilities for Life Science Research

Připojte se k nám a speciálnímu hostu Dr. Simone Ruggeri na webináři o fototermální AFM-IR – poskytování vylepšených analytických schopností pro výzkum v oblasti biologických věd.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 25.6.2025
Bruker
tag
share
more
Photothermal AFM-IR: Enhanced Analysis Capabilities for Life Science Research
Photothermal AFM-IR Spectroscopy and Imaging for Life Science

Photothermal AFM-IR Spectroscopy and Imaging for Life Science

Tento webinář se zabývá četnými aplikacemi AFM-IR v oblasti věd o živé přírodě a ukazuje širokou použitelnost pro vzorky od tkání až po jednotlivá proteinová vlákna.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Bruker
tag
share
more
Photothermal AFM-IR Spectroscopy and Imaging for Life Science
Nanoscale Chemical Characterization of Semiconductor Materials and Devices using Photothermal AFM-IR

Nanoscale Chemical Characterization of Semiconductor Materials and Devices using Photothermal AFM-IR

V tomto webináři odborníci společnosti Bruker na infračervenou spektroskopii v nanorozměrech ukazují, jak lze pomocí fototermální AFM-IR identifikovat lokální chemické složení defektů.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 22.1.2025
Bruker
tag
share
more
Nanoscale Chemical Characterization of Semiconductor Materials and Devices using Photothermal AFM-IR
AFM-in-SEM LiteScope: Redefining In-Situ Correlative Analyses

AFM-in-SEM LiteScope: Redefining In-Situ Correlative Analyses

Seznamte se s výhodami a aplikacemi AFM-in-SEM pro in-situ korelační mikroskopii v materiálových vědách, vědách o živé přírodě a dalších oblastech výzkumu.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 5.6.2024
NenoVision
tag
share
more
AFM-in-SEM LiteScope: Redefining In-Situ Correlative Analyses
AFM-in-SEM LiteScope 2.5: Redefining In-Situ Correlative Analyses

AFM-in-SEM LiteScope 2.5: Redefining In-Situ Correlative Analyses

Úvod do AFM-in-SEM a in-situ korelační mikroskopie. Objevte klíčové inovace a funkce LiteScope 2.5. Otevřená hardwarová/softwarová filozofie.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 26.4.2023
NenoVision
tag
share
more
AFM-in-SEM LiteScope 2.5: Redefining In-Situ Correlative Analyses
Nanoscale AFM-IR Spectroscopy and Imaging for Failure Analysis of Electronic Devices

Nanoscale AFM-IR Spectroscopy and Imaging for Failure Analysis of Electronic Devices

Charakterizace nanometrových prvků v polovodičových zařízeních pomocí nanoIR spektroskopie
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Bruker
tag
share
more
Nanoscale AFM-IR Spectroscopy and Imaging for Failure Analysis of Electronic Devices
 

Mohlo by Vás zajímat

Jeden přístroj: Sedm kritických vlastností tryskového paliva

Jeden přístroj: Sedm kritických vlastností tryskového paliva

St, 13.5.2026
Anton Paar
Webináře LabRulezICPMS týden 20/2026

Webináře LabRulezICPMS týden 20/2026

Po, 11.5.2026
LabRulez
Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“

Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“

Pá, 8.5.2026
CXI TUL
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.