Zjistěte, jak LiteScope AFM-in-SEM umožňuje in-situ elektrickou a topografickou analýzu polovodičových komponent s vysokým rozlišením na nanoskopické úrovni.

Zjistěte, jak LiteScope AFM-in-SEM umožňuje in-situ elektrickou a topografickou analýzu polovodičových komponent s vysokým rozlišením na nanoskopické úrovni.

Seznamte se s výhodami a aplikacemi AFM-in-SEM pro in-situ korelační mikroskopii v materiálových vědách, vědách o živé přírodě a dalších oblastech výzkumu.

Tento webinář se zabývá četnými aplikacemi AFM-IR v oblasti věd o živé přírodě a ukazuje širokou použitelnost pro vzorky od tkání až po jednotlivá proteinová vlákna.

Úvod do AFM-in-SEM a in-situ korelační mikroskopie. Objevte klíčové inovace a funkce LiteScope 2.5. Otevřená hardwarová/softwarová filozofie.

V tomto webináři odborníci společnosti Bruker na infračervenou spektroskopii v nanorozměrech ukazují, jak lze pomocí fototermální AFM-IR identifikovat lokální chemické složení defektů.

Připojte se k nám a speciálnímu hostu Dr. Simone Ruggeri na webináři o fototermální AFM-IR – poskytování vylepšených analytických schopností pro výzkum v oblasti biologických věd.

Charakterizace nanometrových prvků v polovodičových zařízeních pomocí nanoIR spektroskopie

Webinář ukazuje, jak fototermální AFM-IR poskytuje chemické informace v nanorozměrech s vysoce rozlišenými IR spektry, které přímo korelují s FT-IR transmisní spektroskopií.

Vydejte se s námi na cestu procesem výroby sond v nejmodernějším závodě společnosti Bruker v Camarillu v Kalifornii, kde ze surového materiálu vyrábíme sondy.