ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Learn how to Confirm your Data on ICP-OES. Are you getting the Right Result? Are You Sure?

Learn how to Confirm your Data on ICP-OES. Are you getting the Right Result? Are You Sure?

Na tomto webináři se bude diskutovat o přesnosti a preciznosti a o tom, jak obojí zajistit.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 19.2.2026
Agilent Technologies
tag
share
more
Learn how to Confirm your Data on ICP-OES. Are you getting the Right Result? Are You Sure?
Tips to High Throughput Analysis of Additives and Wear metals by ICP-OES

Tips to High Throughput Analysis of Additives and Wear metals by ICP-OES

Tato prezentace se zaměří na nastavení a optimalizaci metodiky opotřebení kovů s vysokou propustností (<30 sekund, od vzorku ke vzorku).
ZÁZNAM
|
Proběhlo Út, 22.4.2025
Agilent Technologies
tag
share
more
Tips to High Throughput Analysis of Additives and Wear metals by ICP-OES
Ignite Your ICP-MS Workflow for Enhanced Efficiency and Productivity

Ignite Your ICP-MS Workflow for Enhanced Efficiency and Productivity

Jak zefektivnit pracovní postupy ICP-MS a zvýšit produktivitu a výzkum prvků pomocí nejnovější technologie ICP-MS.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Út, 1.10.2024
Thermo Fisher Scientific
tag
share
more
Ignite Your ICP-MS Workflow for Enhanced Efficiency and Productivity
Semiconductor Applications and Setup for a variety of Solvents and Matrices by ICP-OES

Semiconductor Applications and Setup for a variety of Solvents and Matrices by ICP-OES

Zatímco mnoho aplikací pro polovodiče vyžaduje úrovně ppt a analýzu ICPMS, na tomto trhu existuje mnoho aplikací, které mohou pro analýzu využít ICP-OES.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Út, 9.5.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Semiconductor Applications and Setup for a variety of Solvents and Matrices by ICP-OES
Interference Correction using the Agilent 5X00 ICP Systems – FACT Modeling and Comparison with Inter-Element Correction IEC

Interference Correction using the Agilent 5X00 ICP Systems – FACT Modeling and Comparison with Inter-Element Correction IEC

Naučte se, jak korigovat spektrální interference v ICP-OES. Objevte výhody modelování FACT ve srovnání s klasickou korekcí IEC v systémech Agilent 5X00 ICP.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 2.10.2025
Agilent Technologies
tag
share
more
Interference Correction using the Agilent 5X00 ICP Systems – FACT Modeling and Comparison with Inter-Element Correction IEC
Tips and Tricks Workshop on ICP-OES: Smarter Method Development

Tips and Tricks Workshop on ICP-OES: Smarter Method Development

Naučte se, jak transformovat své neznámé vzorky na rutinní analýzy.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Út, 25.1.2022
Agilent Technologies
tag
share
more
Tips and Tricks Workshop on ICP-OES: Smarter Method Development
USP <232>/ <233> and ICH Q3D | Prepare Your Lab to Measure and Mitigate Elemental Impurities in Drug Products

USP <232>/ <233> and ICH Q3D | Prepare Your Lab to Measure and Mitigate Elemental Impurities in Drug Products

Celkový přístup k řešení pro USP kapitoly <232>/ <233> a ICHQ3D.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Pá, 1.7.2022
Shimadzu Corporation
tag
share
more
USP <232>/ <233> and ICH Q3D | Prepare Your Lab to Measure and Mitigate Elemental Impurities in Drug Products
Analysis of Electrolyte and Li salts commonly used in Li Battery manufacturing

Analysis of Electrolyte and Li salts commonly used in Li Battery manufacturing

Analýza elektrolytu a solí Li běžně používaných při výrobě Li baterií
ZÁZNAM
|
Proběhlo Út, 18.3.2025
Agilent Technologies
tag
share
more
Analysis of Electrolyte and Li salts commonly used in Li Battery manufacturing
Discover an Automated Sample Screening that Intelligently Develops ICP-OES Methods

Discover an Automated Sample Screening that Intelligently Develops ICP-OES Methods

Automatizovaný výběr vlnové délky a zjednodušený vývoj metody pomocí IntelliQuant Screening na neznámých matricích vzorků.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Discover an Automated Sample Screening that Intelligently Develops ICP-OES Methods
Determination of the Geographic Origin of Spices Using ICP-OES, ICP-MS, and Mass Profile Professional

Determination of the Geographic Origin of Spices Using ICP-OES, ICP-MS, and Mass Profile Professional

Stanovení geografického původu koření pomocí ICP-OES, ICP-MS a Mass Profile Professional.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 18.4.2024
Agilent Technologies
tag
share
more
Determination of the Geographic Origin of Spices Using ICP-OES, ICP-MS, and Mass Profile Professional
 

Mohlo by Vás zajímat

27. Škola MS 2026 - Registrace a Krátké Kurzy

27. Škola MS 2026 - Registrace a Krátké Kurzy

Út, 21.4.2026
Škola hmotnostní spektrometrie
Zveme vás na Experientia Day 2026

Zveme vás na Experientia Day 2026

Po, 20.4.2026
Nadace Experientia
Webináře LabRulezICPMS týden 17/2026

Webináře LabRulezICPMS týden 17/2026

Po, 20.4.2026
LabRulez
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.