ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Characterizing sub-nanometer narrow bandpass filters using a Cary 400/500

Aplikace | 2011 | Agilent TechnologiesInstrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Zaměření
Materiálová analýza
Výrobce
Agilent Technologies

Souhrn

Význam tématu


Bandpass filtry s velmi úzkou přenosovou pásmem pod 1 nm představují cenově efektivní alternativu k mřížkovým monochromátorům při výběru úzkého spektrálního rozsahu. Jejich přesná charakterizace je klíčová pro aplikace v optické analýze, biochemii, farmaceutickém průmyslu a vývoji laserových systémů. Kontrola šířky pásma (FWHM), centrální vlnové délky a propustnosti umožňuje zajištění kvality a reprodukovatelnosti optických komponent.

Cíle a přehled studie / článku


Cílem této studie je představit metodiku pro měření subnanometrových pásmových filtrů s použitím spektrofotometru Cary 400/500. Předvedeny jsou výsledky pro jeden filtr s FWHM 3,1 Å a dva filtry s FWHM 1,2 Å. Studie demonstruje optimalizovaný postup měření a vliv provozních parametrů na přesnost výsledků.

Použitá metodika a instrumentace


Pro charakterizaci bylo použito spektrofotometr Cary 400/500 v režimu dvojpaprskovém s redukovanou výškou štěrbiny. Postup zahrnuje:
  • Předehřátí a reset přístroje, validace vlnové délky
  • Nastavení spektrální šířky pásma (SBW) pod 0,040 nm a datového intervalu tak, aby bylo pokryto celé spektrum filtru
  • Umístění dvou 1 mm apertur v předním paprsku 50 mm před a za vzorkem
  • Použití dvou 5 mm apertur v zadním paprsku spolu s 1,1 Abs předzesilovačem pro zachování plného dynamického rozsahu
  • Optimalizace polohy apertur pro maximalizaci přenosu a provedení 100 %T a 0 %T měření pozadí
  • Nastavení průměrné doby měření nad 5 s nebo využití řízení poměru signálu a šumu pro zkrácení doby skenu


Hlavní výsledky a diskuse


Naměřené charakteristiky tří filtrů jsou:
  • FWHM 0,31 nm, centrální vlnová délka 709,277 nm, propustnost 26,17 %T
  • FWHM 0,12 nm, centrální vlnová délka 531,452 nm, propustnost 65,53 %T
  • FWHM 0,12 nm, centrální vlnová délka 532,578 nm, propustnost 42,22 %T
Studie rovněž ukazuje, že změna teploty o 5 °C či úhel dopadu o 1° posune centrální vlnovou délku přibližně o 0,05 nm. Kontrola SBW a přesná geometrie apertur jsou proto nezbytné pro věrné měření.

Přínosy a praktické využití metody


Navržená metoda umožňuje laboratořím a výrobním závodům spolehlivou kontrolu kvality úzkopásmových filtrů. Díky ní lze zajistit konzistentní optické vlastnosti v aplikacích z oblasti analytické chemie, spektroskopie a optoelektroniky.

Budoucí trendy a možnosti využití


  • Automatizace měřicích procedur a zkrácení doby skenů
  • Integrace s algoritmy strojového učení pro prediktivní údržbu a optimalizaci
  • Vývoj detektorů s vyšší citlivostí pro zlepšení poměru signál/šum
  • Online monitorování optických filtrů v reálném čase


Závěr


Spektrofotometr Cary 400/500 je schopen přesně charakterizovat subnanometrové pásmové filtry za předpokladu dodržení doporučených provozních parametrů a správné geometrie apertur. Předložená metodika nabízí spolehlivý postup pro měření FWHM, centrální vlnové délky a propustnosti.

Reference


Agilent Technologies, Inc., Application Note SI-A-1193, 2011.

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Toggle
Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR
Application Note Materials Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR Author Travis Burt Agilent Technologies, Inc. Abstract Bandpass filters can provide an inexpensive alternative to grating monochromators for isolating narrow wavelength regions. Many commercial bandpass filters have…
Klíčová slova
bandpass, bandpasswavelength, wavelengthfilters, filtersangle, anglespectrophotometer, spectrophotometernanometer, nanometershift, shiftnarrow, narrowcary, caryfilter, filtersbw, sbwrear, rearnir, nirshould, shouldcone
Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
Applications of UV-Vis-NIR Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy Application Compendium > Return to table of contents Table of contents Introduction  4 Optics  5 Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters  Evaluation of the Cary Specular Reflectance Accessory for…
Klíčová slova
optical, opticalreturn, returnreflectance, reflectancecontents, contentstable, tableangle, angleincidence, incidencemeasurements, measurementswavelength, wavelengthtransmittance, transmittancereflection, reflectionspectrophotometer, spectrophotometermeasurement, measurementcoating, coatingbeam
Measuring optical filters
Measuring optical filters
2011|Agilent Technologies|Aplikace
Measuring optical filters Application Note Author Introduction Don Anderson and Michelle Archard Bandpass filters are used to isolate a narrow region of the optical spectrum. The filter‟s operation is based on interferometric principles and hence is angularly sensitive. Most commercial…
Klíčová slova
bandpass, bandpassfilters, filtersoptical, opticalangle, anglecorrection, correctionpolarized, polarizedlight, lightgrating, gratingblocking, blockingaveraging, averagingtransmission, transmissionperformed, performeddepolarizer, depolarizerfilter, filtercentre
Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control
Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control
2024|Agilent Technologies|Technické články
Technical Overview Improving Spectral Quality Using Beam Collimation Control Benefits of the Agilent Cary 7000 Universal Measurement Spectrophotometer with high f-number apertures for superior data quality and accuracy Authors Wesam Alwan and Travis Burt Agilent Technologies, Inc. Introduction In spectroscopy,…
Klíčová slova
uma, umacollimation, collimationapertures, aperturesbeam, beamaoi, aoisteepness, steepnesscary, carydegree, degreevertical, verticalplane, planeaperture, aperturevis, visquality, qualitymeasurement, measurementhorizontal
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.