ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Method Development and Data Interpretation on Agilent's 5110 ICP-OES

Method Development and Data Interpretation on Agilent's 5110 ICP-OES

Naučte se vytvořit metodu od nuly pomocí všech rychlých a snadných nástrojů softwaru ICP Expert.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Method Development and Data Interpretation on Agilent's 5110 ICP-OES
ICP-MS Maintenance, Tips and Tricks

ICP-MS Maintenance, Tips and Tricks

Techniky běžné údržby a způsoby vyladění systému pro zajištění nejvyšší přesnosti u obtížných matric a prvků, které jsou obvykle problematické.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
ICP-MS Maintenance, Tips and Tricks
Get the Most Out of Your AA - Achieve the Productivity and Speed of Sequential ICP-OES with Agilent’s AA Systems

Get the Most Out of Your AA - Achieve the Productivity and Speed of Sequential ICP-OES with Agilent’s AA Systems

Využijte integrované příslušenství čerpadla SIPS-20, abyste ušetřili standardní čas a čas přípravy vzorků a minimalizovali lidské chyby.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Get the Most Out of Your AA - Achieve the Productivity and Speed of Sequential ICP-OES with Agilent’s AA Systems
Ultratrace Element Analysis By ICP-MS/MS Under Robust Conditions Using Ion Optic Lenses

Ultratrace Element Analysis By ICP-MS/MS Under Robust Conditions Using Ion Optic Lenses

Metody odstraňování rušivých vlivů používané k dosažení BEC na úrovni nižší než ppt pro prvky SEMI, včetně kritických kovových (vodivých) nečistot.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Ultratrace Element Analysis By ICP-MS/MS Under Robust Conditions Using Ion Optic Lenses
Screening collection containers in semiquant analysis mode

Screening collection containers in semiquant analysis mode

MassHunter semikvantitativní funkce, známá jako IntelliQuant, k provedení rychlého screeningového testu na kontaminaci v nádobách pro odběr pacientů.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Screening collection containers in semiquant analysis mode
ICP-OES: Basic Tips and Tricks and Maintenance

ICP-OES: Basic Tips and Tricks and Maintenance

Jak řešit problémy a vybrat správný systém zavádění vzorků pro různé typy aplikací.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
ICP-OES: Basic Tips and Tricks and Maintenance
Removing Difficult Isobaric Overlaps using Triple Quadrupole ICP-MS (ICP-QQQ) is Simple: If you have MS/MS

Removing Difficult Isobaric Overlaps using Triple Quadrupole ICP-MS (ICP-QQQ) is Simple: If you have MS/MS

Jak trojitý kvadrupól ICP-MS 8900 s jednotkovým hmotnostním rozlišením v režimu MS/MS zajišťuje kontrolované a důsledné odstranění interferencí.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Removing Difficult Isobaric Overlaps using Triple Quadrupole ICP-MS (ICP-QQQ) is Simple: If you have MS/MS
Discover an Automated Sample Screening that Intelligently Develops ICP-OES Methods

Discover an Automated Sample Screening that Intelligently Develops ICP-OES Methods

Automatizovaný výběr vlnové délky a zjednodušený vývoj metody pomocí IntelliQuant Screening na neznámých matricích vzorků.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Discover an Automated Sample Screening that Intelligently Develops ICP-OES Methods
How to Minimize Contamination and Carry Over Issues on ICP-MS

How to Minimize Contamination and Carry Over Issues on ICP-MS

Zdroje běžných laboratorních kontaminantů v ICP-MS a metody používané k jejich odstranění.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
How to Minimize Contamination and Carry Over Issues on ICP-MS
Analytical Plasma Fundamentals and the Impact on your Results

Analytical Plasma Fundamentals and the Impact on your Results

Tvorba plazmatu v analytické chemii, různé teplotní zóny plazmatu a vliv parametrů přístroje na stav plazmatu.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Agilent Technologies
tag
share
more
Analytical Plasma Fundamentals and the Impact on your Results
 

Mohlo by Vás zajímat

Cena Shimadzu na Sjezdu chemiků 2026

Cena Shimadzu na Sjezdu chemiků 2026

Út, 7.7.2026
SHIMADZU Handels GmbH - organizační složka
Pokročilá charakterizace biopaliv pomocí analytických přístrojů LECO

Pokročilá charakterizace biopaliv pomocí analytických přístrojů LECO

Út, 7.7.2026
LECO
Webináře LabRulezICPMS týden 28/2026

Webináře LabRulezICPMS týden 28/2026

Po, 6.7.2026
LabRulez
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.