ICPMS webináře se zaměřením na Mikroskopie - strana 5

Porovnejte ruční XRF, mikro-XRF a SEM-EDS pro kontrolu kvality baterií. Zjistěte, jak každá z těchto metod podporuje analýzu surovin, elektrod a recyklačních procesů.

Objevte, jak zobrazování dSTORM odhaluje strukturu GABAAR v neuronech a prohlubuje poznatky o synaptické dysfunkci, čímž zajišťuje přesné a spolehlivé výsledky MS.

Připojte se k nám na tomto webináři a dozvíte se o provozních režimech AFM pro analýzu poruch, včetně relevantních informací o jednotlivých režimech.

Zjistěte, jak LiteScope AFM-in-SEM umožňuje in-situ elektrickou a topografickou analýzu polovodičových komponent s vysokým rozlišením na nanoskopické úrovni.

Připojte se k nám a speciálnímu hostu Dr. Upnishad Sharma, ETH Zurich, na tomto webináři o AI-asistované analýze nanomechanických vlastností biologických vzorků v prostředí s více kompartmenty pomocí AFM.

Zjistěte, jak mohou být používány různé zobrazovací techniky v zařízení pro imaging.

Zjistěte, jak LiteScope AFM-in-SEM umožňuje in-situ elektrickou a topografickou analýzu polovodičových komponent s vysokým rozlišením na nanoskopické úrovni.

Vydejte se s námi na cestu procesem výroby sond v nejmodernějším závodě společnosti Bruker v Camarillu v Kalifornii, kde ze surového materiálu vyrábíme sondy.

Připojte se k informativnímu webináři sponzorovanému společností ZEISS, kde vám představíme ZEN core, sofistikované softwarové řešení navržené pro vylepšení vašich mikroskopických pracovních postupů.

Tento webinář představí náš nový detektor EBSD a eWARP, který řeší omezení rychlosti a zároveň maximalizuje účinnost signálu.