ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

ICPMS webináře se zaměřením na FTIR Spektroskopie - strana 1

Advances in AFM for the Characterization of 2D Materials

Advances in AFM for the Characterization of 2D Materials

Zúčastněte se tohoto webináře společnosti Bruker a seznamte se s charakterizací 2D materiálů v nanoměřítku pomocí AFM, včetně elektrického mapování, AFM-IR a nanolitografie.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 8.4.2026
Bruker
tag
share
more
Advances in AFM for the Characterization of 2D Materials
Introduction to Photothermal AFM-IR for Infrared Spectroscopists

Introduction to Photothermal AFM-IR for Infrared Spectroscopists

Pomocí fototermální infračervené spektroskopie s atomovým silovým mikroskopem (AFM-IR) se chemická identifikace v nanoměřítku provádí měřením lokálních infračervených spekter přímo na hrotu AFM.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 22.4.2026
Bruker
tag
share
more
Introduction to Photothermal AFM-IR for Infrared Spectroscopists
Two Complementary Nanoscale IR Techniques: Photothermal AFM-IR and s-SNOM

Two Complementary Nanoscale IR Techniques: Photothermal AFM-IR and s-SNOM

Tento webinář představí dvě hlavní techniky pro infračervená měření v nanoměřítku: fototermální AFM-IR (PTIR/AFM-IR) a IR zobrazování pomocí s-SNOM (scattering scanning nearfield optical microscopy).
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Bruker
tag
share
more
Two Complementary Nanoscale IR Techniques: Photothermal AFM-IR and s-SNOM
Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR

Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR

Srdečně vás zveme na tento živý webinář: Úvod do infračervené spektroskopie a zobrazování v nanoměřítku pomocí fototermální AFM-IR.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 17.10.2024
Bruker
tag
share
more
Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR
Resonance Enhanced Force Volume AFM-IR: A Powerful New Technique for Nanoscale IR Characterization

Resonance Enhanced Force Volume AFM-IR: A Powerful New Technique for Nanoscale IR Characterization

Připojte se k tomuto webináři, kde vám představíme novou výkonnou techniku pro charakterizaci infračerveného záření v nanorozměrech: Představíme vám rezonancí zesílený objem AFM-IR.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 23.5.2024
Bruker
tag
share
more
Resonance Enhanced Force Volume AFM-IR: A Powerful New Technique for Nanoscale IR Characterization
Photothermal AFM-IR: Enhanced Analysis Capabilities for Life Science Research

Photothermal AFM-IR: Enhanced Analysis Capabilities for Life Science Research

Připojte se k nám a speciálnímu hostu Dr. Simone Ruggeri na webináři o fototermální AFM-IR – poskytování vylepšených analytických schopností pro výzkum v oblasti biologických věd.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 25.6.2025
Bruker
tag
share
more
Photothermal AFM-IR: Enhanced Analysis Capabilities for Life Science Research
Photothermal AFM-IR Spectroscopy and Imaging for Life Science

Photothermal AFM-IR Spectroscopy and Imaging for Life Science

Tento webinář se zabývá četnými aplikacemi AFM-IR v oblasti věd o živé přírodě a ukazuje širokou použitelnost pro vzorky od tkání až po jednotlivá proteinová vlákna.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Bruker
tag
share
more
Photothermal AFM-IR Spectroscopy and Imaging for Life Science
Nanoscale Chemical Characterization of Semiconductor Materials and Devices using Photothermal AFM-IR

Nanoscale Chemical Characterization of Semiconductor Materials and Devices using Photothermal AFM-IR

V tomto webináři odborníci společnosti Bruker na infračervenou spektroskopii v nanorozměrech ukazují, jak lze pomocí fototermální AFM-IR identifikovat lokální chemické složení defektů.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 22.1.2025
Bruker
tag
share
more
Nanoscale Chemical Characterization of Semiconductor Materials and Devices using Photothermal AFM-IR
Nanoscale AFM-IR Spectroscopy and Imaging for Failure Analysis of Electronic Devices

Nanoscale AFM-IR Spectroscopy and Imaging for Failure Analysis of Electronic Devices

Charakterizace nanometrových prvků v polovodičových zařízeních pomocí nanoIR spektroskopie
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Bruker
tag
share
more
Nanoscale AFM-IR Spectroscopy and Imaging for Failure Analysis of Electronic Devices
Chemical Characterization of Heterogenous Polymeric Materials on the Nanoscale Using Photothermal AFM-IR

Chemical Characterization of Heterogenous Polymeric Materials on the Nanoscale Using Photothermal AFM-IR

Webinář ukazuje, jak fototermální AFM-IR poskytuje chemické informace v nanorozměrech s vysoce rozlišenými IR spektry, které přímo korelují s FT-IR transmisní spektroskopií.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Bruker
tag
share
more
Chemical Characterization of Heterogenous Polymeric Materials on the Nanoscale Using Photothermal AFM-IR
 

Mohlo by Vás zajímat

Webináře LabRulezICPMS týden 28/2026

Webináře LabRulezICPMS týden 28/2026

Po, 6.7.2026
LabRulez
Chceme zefektivnit výzkum v oblasti nových materiálů i léčiv

Chceme zefektivnit výzkum v oblasti nových materiálů i léčiv

Po, 6.7.2026
Nadace Experientia
Proběhla mezinárodní konference FA&CE 2026 zaměřená na průtokovou analýzu a kapilární elektroforézu

Proběhla mezinárodní konference FA&CE 2026 zaměřená na průtokovou analýzu a kapilární elektroforézu

Pá, 3.7.2026
Farmaceutická fakulta Univerzity Karlovy v Hradci Králové
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.