ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

ICPMS webináře se zaměřením na FTIR Spektroskopie - strana 1

Advances in AFM for the Characterization of 2D Materials

Advances in AFM for the Characterization of 2D Materials

Zúčastněte se tohoto webináře společnosti Bruker a seznamte se s charakterizací 2D materiálů v nanoměřítku pomocí AFM, včetně elektrického mapování, AFM-IR a nanolitografie.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 8.4.2026
Bruker
tag
share
more
Advances in AFM for the Characterization of 2D Materials
Introduction to Photothermal AFM-IR for Infrared Spectroscopists

Introduction to Photothermal AFM-IR for Infrared Spectroscopists

Pomocí fototermální infračervené spektroskopie s atomovým silovým mikroskopem (AFM-IR) se chemická identifikace v nanoměřítku provádí měřením lokálních infračervených spekter přímo na hrotu AFM.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 22.4.2026
Bruker
tag
share
more
Introduction to Photothermal AFM-IR for Infrared Spectroscopists
Two Complementary Nanoscale IR Techniques: Photothermal AFM-IR and s-SNOM

Two Complementary Nanoscale IR Techniques: Photothermal AFM-IR and s-SNOM

Tento webinář představí dvě hlavní techniky pro infračervená měření v nanoměřítku: fototermální AFM-IR (PTIR/AFM-IR) a IR zobrazování pomocí s-SNOM (scattering scanning nearfield optical microscopy).
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Bruker
tag
share
more
Two Complementary Nanoscale IR Techniques: Photothermal AFM-IR and s-SNOM
Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR

Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR

Srdečně vás zveme na tento živý webinář: Úvod do infračervené spektroskopie a zobrazování v nanoměřítku pomocí fototermální AFM-IR.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 17.10.2024
Bruker
tag
share
more
Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR
Resonance Enhanced Force Volume AFM-IR: A Powerful New Technique for Nanoscale IR Characterization

Resonance Enhanced Force Volume AFM-IR: A Powerful New Technique for Nanoscale IR Characterization

Připojte se k tomuto webináři, kde vám představíme novou výkonnou techniku pro charakterizaci infračerveného záření v nanorozměrech: Představíme vám rezonancí zesílený objem AFM-IR.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 23.5.2024
Bruker
tag
share
more
Resonance Enhanced Force Volume AFM-IR: A Powerful New Technique for Nanoscale IR Characterization
Photothermal AFM-IR: Enhanced Analysis Capabilities for Life Science Research

Photothermal AFM-IR: Enhanced Analysis Capabilities for Life Science Research

Připojte se k nám a speciálnímu hostu Dr. Simone Ruggeri na webináři o fototermální AFM-IR – poskytování vylepšených analytických schopností pro výzkum v oblasti biologických věd.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 25.6.2025
Bruker
tag
share
more
Photothermal AFM-IR: Enhanced Analysis Capabilities for Life Science Research
Photothermal AFM-IR Spectroscopy and Imaging for Life Science

Photothermal AFM-IR Spectroscopy and Imaging for Life Science

Tento webinář se zabývá četnými aplikacemi AFM-IR v oblasti věd o živé přírodě a ukazuje širokou použitelnost pro vzorky od tkání až po jednotlivá proteinová vlákna.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Bruker
tag
share
more
Photothermal AFM-IR Spectroscopy and Imaging for Life Science
Nanoscale Chemical Characterization of Semiconductor Materials and Devices using Photothermal AFM-IR

Nanoscale Chemical Characterization of Semiconductor Materials and Devices using Photothermal AFM-IR

V tomto webináři odborníci společnosti Bruker na infračervenou spektroskopii v nanorozměrech ukazují, jak lze pomocí fototermální AFM-IR identifikovat lokální chemické složení defektů.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 22.1.2025
Bruker
tag
share
more
Nanoscale Chemical Characterization of Semiconductor Materials and Devices using Photothermal AFM-IR
Nanoscale AFM-IR Spectroscopy and Imaging for Failure Analysis of Electronic Devices

Nanoscale AFM-IR Spectroscopy and Imaging for Failure Analysis of Electronic Devices

Charakterizace nanometrových prvků v polovodičových zařízeních pomocí nanoIR spektroskopie
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Bruker
tag
share
more
Nanoscale AFM-IR Spectroscopy and Imaging for Failure Analysis of Electronic Devices
Chemical Characterization of Heterogenous Polymeric Materials on the Nanoscale Using Photothermal AFM-IR

Chemical Characterization of Heterogenous Polymeric Materials on the Nanoscale Using Photothermal AFM-IR

Webinář ukazuje, jak fototermální AFM-IR poskytuje chemické informace v nanorozměrech s vysoce rozlišenými IR spektry, které přímo korelují s FT-IR transmisní spektroskopií.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Bruker
tag
share
more
Chemical Characterization of Heterogenous Polymeric Materials on the Nanoscale Using Photothermal AFM-IR
 

Mohlo by Vás zajímat

Jeden přístroj: Sedm kritických vlastností tryskového paliva

Jeden přístroj: Sedm kritických vlastností tryskového paliva

St, 13.5.2026
Anton Paar
Webináře LabRulezICPMS týden 20/2026

Webináře LabRulezICPMS týden 20/2026

Po, 11.5.2026
LabRulez
Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“

Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“

Pá, 8.5.2026
CXI TUL
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.